elv M 3890D USB Bedienungsanleitung Seite 30

Funktion
Kapazität
Frequenz**
Temperatur
Diodentest
Durchgangstest
Signalausgang
Transistortest (hFE)
Logiktest
* Re: DCV: 10 MΩ II 100pF; ACV: 100 MΩ
Überlastgeschützt: bis 1000 V DC/750 V AC rms
** Überlastgeschützt bis 250 V DC/AC rms
Empfindlichkeit ≤0,36 V rms bis 4 MHz
Diode, Widerstand, Frequenz, Durchgangsprüfer, Logiktester:
Überlastgeschützt bis 250 V DC/AC rms
Kapazität/Temperatur:
Überlastgeschützt bis 25 V AC rms/30 V DC
Strommessbereiche bis 400 mA (mA-Buchse) abgesichert:
F 800 mA/250 V 5 x 20
Strommessbereich 20 A abgesichert:
FF 15A/250 V 6 x 30
Messung im 20 A-Bereich, ab 12 A: max. 30 s, danach 15 Minuten Pause
Genauigkeit bezogen auf eine Umgebungstemperatur von 23 ˚C ± 5˚C
Bereich
4 nF ±2,0% + 5 Digit
40 nF
400 nF
4 µF ±3,0% + 5 Digit
40 µF
200 µF ±5,0% + 5 Digit
4 kHz ±0,1% + 1 Digit
40 kHz
400 kHz
4 MHz
-40 bis +200˚C ±3% + 5 Digit
200-1200˚C ±3% + 2 Digit
Genauigkeit
Teststrom max. 1,5 mA an 1 kΩ
(U max. 2,0 V)
F
Signalton bei ≤80 Ω
Rechteck, U = 1,5 V, Û = 3,0 V,
AV
13 Frequenzen: 1-5-10-50-60-100-
400-500 Hz -1-2-4-5-10 kHz
Teststrom 1 mA
3 Level: Low, – – – –, Hi
30
Auflösung
1 pF
10 pF
100 pF
1 nF
10 nF
100 nF
1 Hz
10 Hz
100 Hz
1 kHz
1 ˚C
1 ˚C