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Feine Strukturen und Kanten hervorheben:
Das Dunkelfeldverfahren
Bei der Mikroskopie im Dunkelfeld wird das Licht der Mikroskopbeleuchtung so geführt, dass nur an den
Objektstrukturen durch Beugung oder Brechung abgelenktes Licht in das Objektiv eintritt und von dort
weiter zur Bildentstehung gelangt.
mikroskopischen Objekten stört jedoch der relativ grobe Kontrast. Zudem reagiert dieses Verfahren
ausgesprochen empfindlich auf Quellen von Streulicht im Strahlengang (z.B. Staubpartikel auf Deckglas
und/oder Objektträger). Deshalb hat das Phasenkontrastverfahren die Dunkelfeldmikroskopie in der
Untersuchung kontrastarmer Objekte teilweise verdrängt. Das Dunkelfeldverfahren ist jedoch relativ
günstig zu realisieren und wird auch daher heute noch gerne verwendet.
Um den Strahlengang in der gewünschten Weise zu modi-
fizieren wird die Aperturblende des Kondensors durch
eine Ringblende ersetzt. Diese Ringblende befindet sich
auf einem Blendenschieber, welcher in die entsprechende
Aufnahme des Kondensors eingefügt wird. Die Blende
ähnelt den bereits vom Phasenkontrast her bekannten
Ringblenden. Allerdings ist der Durchmesser der Blende
für das Dunkelfeld deutlich größer. Mit dieser Blende
kann Dunkelfeldmikroskopie unter Verwendung der
Objektive 10x, 20x und 40x betrieben werden. Die
Objektive 60X und 100X (Ölimmersion) können nicht für
die Dunkelfeldmikroskopie verwendet werden.
Obige Abbildung: Dunkelfeld-Blendenschieber für die
Mikroskopserie BA310 – links die Ringblende für das
Dunkelfeld, rechts eine Leerstelle für die normale Hell-
feld-Mikroskopie.
Da nur an Objektstrukturen abgelenktes Licht
in des Objektiv eintreten kann, sind alle
Bereiche ohne derartige Strukturen im
Dunkelfeldbild schwarz und die lichtstreu-
enden Strukturen leuchten vor diesem
dunklen Bilduntergrund hell auf.
Das Bildbeispiel links zeigt Epithelzellen im
Dunkelfeld.
Im Vergleich zum Phasenkontrastbild zeigen
sich hier wesentlich härtere Bildkontraste
und auch kleine Partikel leuchten sehr hell
auf. Deshalb eignet sich dieses Verfahren
besonders zur Beobachtung und dem Nach-
weis sehr feiner Strukturen. Bei vielen
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