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wtw LF 323 Bedienungsanleitungen Seite 24

Mikroprozessor konduktometer; standard-leitfähigkeitsmeßzelle
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Bereiche bei gewählter Zellenkonstante 0.450 cm
Ranges at selected cell constant 0.450 cm
Drücken von
Depressing
1
2
3
4
5
6
7
Sprung zu 1
Step to 1
Bereiche bei gewählter Zellenkonstante 0.1 cm
Ranges at selected cell constant 0.1 cm
Drücken von
Depressing
1
2
3
4
5
6
7
Sprung zu 1
Step to 1
Allgemeine Hinweise zur Temperaturkompensation bei der Leitfähigkeitsmessung:
Applikationsbericht Nr. LF 1194055
General hints for temperature compensation at the conductivity measurement:
Application report no. LF 1194055
24
Meßbereich
Meas. range
0.0 ... 199.9 µS/cm
0 ... 1999
µS/cm
0.00 ... 19.99 mS/cm
0.0 ... 199.9 mS/cm
0 ... 500
mS/cm
0 ... 70.0
0 ... 1999
mg/l TDS
Meßbereich
Meas. range
0.0 ... 19.99 µS/cm
0.0 ... 199.9 µS/cm
0 ... 1999
µS/cm
0.0 ... 19.99 mS/cm
0.0 ... 99.9
mS/cm
0 ... 70.0
0 ... 1999
mg/l TDS
Messen
Measurement
-1
... 1.300 cm
TDS
TDS
TDS
TDS
TDS
Sall
-1
-1
fix:
TDS
TDS
TDS
TDS
TDS
Sall
BA52206/07.00/Pla/LF323-325-SET-2
-1
... 1.300 cm
-1
-1
:
Auflösung
Resolution
0.1
µS/cm
1
µS/cm
0.01 mS/cm
0.1 mS/cm
1 mS/cm
0.1
mS/cm
1
mg/l
fest:
Auflösung
Resolution
0.01
µS/cm
0.1
µS/cm
1
µS/cm
0.01 mS/cm
0.1 mS/cm
0.1
mS/cm
1
mg/l
:

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