Chauvin Arnoux C.A 6545 Bedienungsanleitung Seite 153

Tiempo de establecimiento típico de la medida en función de los elementos probados (U
U )
n
Estos valores incluyen las influencias debidas a la carga del componente capacitivo, al sistema de
gama automática y a la regulación de la tensión de prueba.
Tensión de ensayo
500 V
1000 V
2500 V
5000 V
Tiempo de descarga típica de un elemento capacitivo para alcanzar 25 V
Tensión inicial
Tiempo de descarga ( C en µF)
Curva de evolución típica de las tensiones de prueba en función de la carga
V
600
500
400
300
200
100
0
0,01
V
1200
1000
800
600
400
200
0
0,1
Carga No capacitivo
(medida sin filtrado)
1 MΩ
100 GΩ
1 MΩ
100 GΩ
3 MΩ
100 GΩ
5 MΩ
100 GΩ
500 V 1000 V
C x 3 s C x 4 s
Gama 500 V
0,1
Gama 1000 V
153
Con capacidad de 1 µF
(medida filtrada)
3 s 4 s
8 s 40 s
3 s 4 s
8 s 80 s
3 s 4 s
8 s 90 s
4 s 16 s
8 s 120 s
CC
2500 V
C x 4 s
1 MW
1 MW
= 0,03
dist
5000 V
C x 7 s