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Display / Bedienelemente
4 . 0 Display / Bedienelemente
D i s p l a y
1 . Achtung, Warnsymbol
2 . Symbol für Zeit-/Stromüberschreitung
3 . Berührspannungsgrenze ist überschritten
4 . S t e c k d o s e n f e h l e r
5 . B a t t e r i e z u s t a n d s a n z e i g e
6 . E i n h e i t e n a n z e i g e
7 . Anezige für selektiven Fi/RCD
8 . B e r ü h r s p a n n u n g s g r e n z e
9 . Phasenlage Nennfehlerstrom
1 0 . S t r o m a r t
1 1 . Eingestellter Nennfehlerstrom
1 2 .N e n n f e h l e r s t r o m - M u l t i p l i k a t o r
1 3 . Symbol für Speichereintrag
1 4 . M e ß w e r t a n z e i g e
1 5 . Temperaturüberschreitung, Überhitzung des
G e r ä t e s
1 6 . Symbol für Rampenfunktion
1 7 . Wechselspannung, Anzeige der Netzspannung
B e d i e n e l e m e n t e
1 8 . Anzeigetaste zum Auswählen der einzelnen
M e ß e r g e b n i s s e
1 9 . N e n n f e h l e r s t r o m a u s w a h l
2 0 . Taste "UL" zur Auswahl der Berührspannungs-
g r e n z e
2 1 . P E - B e r ü h r u n g s e l e k t r o d e
2 2 . Taste "Start"
2 3 . Taste "Speichern"
2 4 . Taste "Senden"
2 5 . Taste "Löschen"
2 6 . Infrarot-RS232 PC-Schnittstelle
2 7 . Taste – "Multiplikator" für Nennfehlerstrom
2 8 . Taste "Stromart"
2 9 . Taste "Phasenlage" für Nennfehlerstrom
3 0 . F u n k t i o n s - W a h l s c h a l t e r
3 1 . LC - Display
3 2 . Batteriefach (auf Rückseite)
6
31
20
18
19
19
21
30
22
28
27
29
26
23
32
25
24
12.0
Technical Data
Table A Test Currents:
I∆N
UB/RE-
x 0 . 5
x 1
Measurement:
~ =
~
~
=
~
10
4
5
3,5
5
10
14
30
12
15
10,5 15
30
42
100 (S) 40
50
35
50
100 141 100
300 (S) 120
150 105 150
300 424 300
500 (S) 200
250 175 250
500 707 500
400
1000 (S)
500
1000
in mA
Table B Ramp Currents
~ =
I∆N
~
=
10
4-14
1,4-20
1-14
30
12-42
4,2 - 59
3-42
100
40-140
14-198
10-140
300
120-420
42-594
30-420
500
200-700
71-990
1000
400-1400
Table C RCD Trip Times at Different Test Currents
F I / R C D - T y p e
Current Type
Current Type
Test Current
I∆N
I∆N
S t a n d a r d
~
x 0 . 5
0 . 5 x
( R C C B )
x 1
1 x
( 1 0 m A /
x 2
2 x
3 0 m A /
x 5
5 x
1 0 0 m A /
R a m p
0.4x- 1.4x
~ =
3 0 0 m A /
x 0 . 5
0 . 3 5 x
5 0 0 m A /
x 1
1 . 4 x
1 0 0 0 m A )
x 2
2 . 8 x
x 5
7 x
R a m p
0.1x- 1.4x
=
x 0 . 5
0 . 5 x
x 1
1 x
x 2
2 x
x 5
5 x
R a m p
0.1x- 1.4x
Technical Data
x 2
x 5
~ =
~ =
=
~
=
~
=
10
20
28
20
50
70
50
30
60
84
60
150 212 150
200 283 200
500 707 500
600 849 600
1500
1000
2000
prescribed
Test Time
S t a n d a r d
FI/RCD
Trip Time
A n a l y z e r
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
< 2 0 0 m s
5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
< 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
< 4 0 m s
4 0 m s
VDE 664-1
¸
< 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
< 2 0 0 m s
5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
< 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
< 4 0 m s
4 0 m s
VDE 664-1
¸
< 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
< 2 0 0 m s
5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
< 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
< 4 0 m s
4 0 m s
VDE 664-1
¸
< 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
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