Inhaltsverzeichnis
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Einleitung / Lieferumfang
Auf dem Gerät und in der Bedienungsanleitung ver-
merkte Hinweise:
Warnung vor einer Gefahrenstelle, Bedienungs-
anleitung beachten.
Hinweis, Tip
Gefahr des elektrischen Schlages.
Durchgängige doppelte oder verstärkte Isolie-
rung entsprechend Klasse II IEC536.
Konformitäts-Zeichen, bestätigt die Einhaltung
der gültigen Richtlinien. Die EMV-Richtlinie
(89/336/EWG) mit den Normen EN 50081-1:1992
und EN 50082-1:1997 und die Niederspannungs-
richtlinie (73/23/EWG) EN 61010-1:1995 werden
e i n g e h a l t e n .
Die Bedienungsanleitung enthält Informationen
und Hinweise, die zu einer sicheren Bedienung und
Nutzung des Gerätes notwendig sind.Vor der Ver-
wendung (Inbetriebnahme / Montage) des Gerätes
ist die Bedienungsanleitung aufmerksam zu lesen
und in allen Punkten zu befolgen.
Wird die Anleitung nicht beachtet oder sollten Sie es
versäumen, die Warnungen und Hinweise zu beach-
ten, können ernste Verletzungen des Anwenders
bzw. Beschädigungen des Gerätes eintreten.
1 . 0 E i n l e i t u n g / L i e f e r u m f a n g
Sie haben ein hochwertiges Meßgerät der Firma Ch.
BEHA GmbH erworben, mit dem Sie über einen sehr
langen Zeitraum reproduzierbare Messungen durch-
führen können. Die Ch. BEHA GmbH ist ein Mitglied
der weltweit operierenden BEHA-Gruppe. Der Haupt-
sitz der BEHA-Gruppe liegt in Glottertal/Schwarz-
wald, wo auch das Technologiezentrum angesiedelt
ist. Die BEHA-Gruppe ist eines der führenden Unter-
nehmen für Meß- und Prüfgeräte.
Mit dem UNITEST TELARIS FI/RCD Analyzer können
unter anderem die Auslösezeiten von Standard - Fi´s
und selektiven Fi´s bei verschiedenen Fehlerströmen
gemessen werden. Zusätzlich kann der Erdungswid-
4
erstand und die Berührungsspannung gemessen
w e r d e n .
Der TELARIS FI/RCD Analyzer zeichnet sich durch
folgende Punkte aus:
• Prüfen von herkömmlichen, selektiven und all-
stromsensitiven FI/RCD-Schutzschaltern
• Automatischer Fi/RCD-Test (alle Fi/RCD-Prüfun-
gen werden automatisch durchgeführt)
• Einstellbare Nennauslöseströme 10, 30, 100, 300,
500 und 1000mA
• Automatische Phasenerkennung
• Verschiedene Kurvenformen: Sinus, pulsiernder
Gleichstrom, Gleichstrom
• Start der Messung bei 0° oder 180°
• Anzeige von: Auslösezeit, Auslösestrom,
Berührungsspannung, Erdungswiderstand
• Ergebnisbewertung, Ergebnisauswertung
• Meßwertspeicher für bis zu 100 Meßwerte
• RS232-IR Schnittstelle zur einfachen Datenüber-
tragung an den PC
• Energiemanagement mit integrierter Auto-Power-
Off Funktion
• Großes, übersichtliches Display
• Gebaut nach DIN VDE 0413 Teil 1 und Teil 6, EN
61557 Teil 1 und 6, EN 61010-1
Im Lieferumfang sind enthalten:
1 St TELARIS Fi/RCD Analyzer
6 St. Batterien 1,5V LR6 AA (eingebaut)
1 St. Netzanschlußleitung
1 St. Meßleitung mit Sicherheitsstecker, 3 polig
1 St. Krokodilklemmen
3 St. Sicherheitsprüfspitze
1 St. Tragetasche / Nylon
1 St. Bedienungsanleitung
2 . 0 Transport und Lagerung
Bitte bewahren Sie die Originalverpackung für eine
spätere Versendung z.B. zur Kalibration auf. Trans-
portschäden aufgrund von mangelhafter Ver-
packung sind von der Garantie ausgeschlossen.Die
Lagerung des Gerätes muß in trockenen, geschlos-
senen Räumen erfolgen. Sollte das Gerät bei extre-
men Temperaturen transportiert worden sein,
benötigt es vor dem Einschalten eine Aklimatisierung
von mindestens 2 Stunden.
F I / R C D - T y p e
Current Type
Current Type
Test Current
I∆N
I∆N
FI/LS (s)
~
x 0 . 5
0 . 5 x
( R C B O )
x 1
1 x
( 1 0 0 m A /
x 2
2 x
3 0 0 m A /
x 5
5 x
~ =
5 0 0 m A /
x 0 . 5
0 . 3 5 x
1 0 0 0 m A )
x 1
1 . 4 x
x 2
2 . 8 x
x 5
7 x
=
x 0 . 5
0 . 5 x
x 1
1 x
x 2
2 x
x 5
5 x
Standardtest
F I / R C D - T y p e
Current Type
Current Type
Test Current
I∆N
I∆N
KV/G e.g.
~
x 0 . 5
0 . 5 x
V
x 1
1 x
( 1 0 m A /
x 2
2 x
3 0 m A /
x 5
5 x
1 0 0 m A /
R a m p
0.4x- 1.4x
~ =
3 0 0 m A /
x 0 . 5
0 . 3 5 x
5 0 0 m A /
x 1
1 . 4 x
1 0 0 0 m A )
x 2
2 . 8 x
x 5
7 x
R a m p
0.1x- 1.4x
=
x 0 . 5
0 . 5 x
x 1
1 x
x 2
2 x
x 5
5 x
R a m p
0.1x- 1.4x
Standardtest
prescribed
Test Time
S t a n d a r d
FI/RCD
Trip Time
A n a l y z e r
-
5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
1 5 0 < t < 5 0 0 m s 5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
6 0 < t < 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-2
¸
4 0 < t < 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-2
¸
-
5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
1 5 0 < t < 5 0 0 m s 5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
6 0 < t < 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-2
¸
4 0 < t < 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-2
¸
-
5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
1 5 0 < t < 5 0 0 m s 5 0 0 m s
VDE 664-2
¸
6 0 < t < 2 0 0 m s
2 0 0 m s
VDE 664-2
¸
4 0 < t < 1 5 0 m s
1 5 0 m s
VDE 664-2
¸
prescribed
Test Time
S t a n d a r d
FI/RCD
Trip Time
A n a l y z e r
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
1 0 < t < 2 0 0 m s5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 1 5 0 m s1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 4 0 m s 4 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 2 0 0 m s2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
1 0 < t < 2 0 0 m s5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 1 5 0 m s1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 4 0 m s 4 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 2 0 0 m s2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
-
VDE 664-1
¸
2000ms, I∆N≥100mA: 500ms
1 0 < t < 2 0 0 m s5 0 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 1 5 0 m s1 5 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 4 0 m s 4 0 m s
VDE 664-1
¸
1 0 < t < 2 0 0 m s2 0 0 m s
VDE 664-1
¸
45
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