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Technische Daten
Oberflächen-
Antimikrobielle Beschichtung der lackierten
behandlung
Flächen
Mindesthöhe
In Parkposition: 1945 mm
Ausladung
Max. 1925 mm
Zuladung
Monitorarm: max. 16 kg
Schwenkarm: min. 6,7 kg, max. 12,2 kg ab
Schwalbenschwanzschnittstelle des Mikroskops
Gewicht
350 kg Gesamtgewicht des Stativs inkl. Höchstlast
DICOM-Daten
SOP-Klassen
Übertragung
Sekundärer Bildspeicher
VL-Mikroskopbildspeicher
Video-Mikroskopbildspeicher
Workflow-Management
Modality Worklist-
Informationsmodell – FIND
Netzwerkdaten
Netzwerk-
RJ45, 10GBASE-T-Ethernet
verbindung
(kompatibel mit 1000BASE-T)
18.3 Umgebungsbedingungen
Im Betrieb
+10 °C bis +30 °C
+50 °F bis +86 °F
30 % bis 95 % relative Luftfeuchtigkeit
800 mbar bis 1060 mbar Luftdruck
Lagerung
–40 °C bis +70 °C
–40 °F bis +158 °F
10 % bis 100 % relative Luftfeuchtigkeit
500 mbar bis 1060 mbar Luftdruck
Transport
–40 °C bis +70 °C
–40 °F bis +158 °F
10 % bis 100 % rel. Luftfeuchtigkeit
500 mbar bis 1060 mbar Luftdruck
98
Dienstbenutzer
Dienstanbieter
(SCU)
(SCP)
Ja
Nein
Ja
Nein
Ja
Nein
Ja
Nein
ARveo 8 / Ref. 10 747 991 / Version 01
18.4 Erfüllte Normen
Konformität CE
• Verordnung 2017/745 über Medizinprodukte einschließlich
Nachträge.
• Klassifizierung: Klasse I in Übereinstimmung mit Anhang VIII,
Regel 1 und 10.
• Medizinische elektrische Geräte, Teil 1: Allgemeine
Festlegungen für die Sicherheit IEC 60601-1; EN 60601-1;
UL 60601-1; CAN/CSA C22.2 NO. 60601-1
• Elektromagnetische Verträglichkeit
IEC 60601-1-2; EN 60601-1-2; EN 61000-3-2; IEC 61000-3-2.
• Weitere anwendbare harmonisierte Normen: IEC 62366,
IEC60825-1, EN60825, IEC 62471, EN62471.
• Das Managementsystem der Medical Division der
Leica Microsystems (Schweiz) AG ist nach der internationalen
Norm ISO 13485 in Bezug auf Qualitätsmanagement und
Qualitätssicherung zertifiziert.
18.5 Einsatzgrenzen
Das Operationsmikroskop ARveo 8 darf nur in geschlossenen
Räumen und auf festem Boden eingesetzt werden.
Mit dem ARveo 8 können keine Schwellen mit einer Höhe von mehr
als 10 mm überquert werden.
Zum Überqueren von Schwellen mit einer Höhe von mehr als 10 mm
kann der mitgelieferte Keil (1) verwendet werden.
Die Schrauben (2) an einer Seite des Scharniers lösen, um den
X
X
Keil (1) zu entfernen.
1
2
Keil (1) vor die Schwelle legen.
X
X
Operationsmikroskop in Transportstellung am Handgriff über
X
X
die Schwelle schieben.
Ohne Hilfsmittel kann das Operationsmikroskop ARveo 8 nur über
Schwellen bis max. 5 mm Höhe bewegt werden.
2
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