ABB SMU615 Technisches Handbuch Seite 262

Abschnitt 12
Merging Unit und Funktionsprüfungen
256
Beschreibung
Prüfung der Störfestigkeit ge‐
gen gedämpft schwingende
Magnetfelder
• 2 s
• 1 MHz
Prüfung auf A.C. und D.C.
Spannungseinbrüche und kurze
Unterbrechungen
Netzfrequenzimmunitätstest
• Gleichtakt
• Gegentakt
Emissionsprüfungen
• Eingekoppelt
0,15...0,50 MHz
0,5...30 MHz
• Gestrahlt
30...230 MHz
230...1000 MHz
1...3 GHz
3...6 GHz
Tabelle 312: Isolationsprüfungen
Beschreibung
Dielektrische Prüfungen
Stoßspannungsprüfung
Isolationswiderstandsmessun‐
gen
Typ-Testwert
100 A/m
400 Transiente/s
30%/10 ms
60%/100 ms
60%/1000 ms
>95%/5000 ms
Nur binäre Eingänge
300 V rms
150 V rms
<79 dB (µV) Quasi-Spitze
<66 dB (µV) Durchschnitt
<73 dB (µV) Quasi-Spitze
<60 dB (µV) Durchschnitt
< 40 dB (µV/m) Quasi-Spitze,
gemessen in einem Abstand von
10m
< 47 dB (µV/m) Quasi-Spitze,
gemessen in einem Abstand von
10m
<76 dB (µV/m) Spitze
<56 dB (µV/m) Durchschnitt, in
einem Abstand von 3m gemes‐
sen
<80 dB (µV/m) Spitze
<60 dB (µV/m) Durchschnitt, in
einem Abstand von 3m gemes‐
sen
Typ-Testwert
2 kV, 50 Hz, 1 Min
500 V, 50 Hz, 1 Min, Kommuni‐
kation
5 kV, 1,2/50 μs, 0,5 J
1 kV, 1,2/50 μs, 0,5 J, Kommu‐
nikation
>100 MΩ, 500 V DC
1MRS758906 A
Referenz
IEC 61000-4-10:2001
GB 14598.26-2015
IEC 60255-26:2013
IEC 61000-4-11:2004
IEC 61000-4-29:2000
GB 14598.26-2015
IEC 60255-26:2013
IEC 61000-4-16:1998+A2:2009
GB 14598.26-2015
IEC 60255-26：2013
CISPR 11:2009+A1:2010
CISPR 22：2008
GB 14598.26-2015
Referenz
IEC 60255-272013
IEC 60255-272013
IEC 60255-272013
SMU615
Technisches Handbuch