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Grundlagen der Messungen
Beleuchtungs-/Betrachtungssystem
Nachfolgend finden Sie den Messfluss angezeigt.
Die Beleuchtung und die Empfangsgeometrie (geometrische Bedingung) dieses Messgeräts gleichzeitige
di:8°- (SCI: mit Glanz) und de:8°-Messungen (SCE: ohne Glanz) gemäß CIE Nr. 15, ISO 7724/1, ASTM
E1164, DIN 5033 Teil 7 und JIS Z 8722 Bedingung c (diffuse Beleuchtung/vertikaler Betrachtungswin-
kel).
1 Beleuchtung
Licht von der Xenon-
Lampe gelangt gestreut
in die Messkugel, wo-
durch die Probe gleich-
mäßig beleuchtet wird.
1 Das Licht der Xenon-Lampe wird auf der Innenfläche der Messkugel gestreut und beleuchtet die Pro-
be gleichmäßig.
2 a. Das Licht wird von der Probenfläche in einem Winkel von 8 Grad zur Oberfläche reflektiert und
von dem optischen Probenmesssystem aufgefangen.
b.Das gestreute Licht in der Messkugel wird vom optischen Beleuchtungsüberwachungssystem auf-
gefangen und an den Sensor weitergeleitet.
3 Das von der Probenfläche reflektierte und das gestreute Licht werden vom optischen Probenmesssys-
tem und dem optischen Beleuchtungsüberwachungssensor jeweils in die entsprechenden Wellenlän-
genanteile unterteilt. Dann wird ein Signal proportional zur Lichtstärke der jeweiligen Anteile zum
analogen Verarbeitungsstromkreis gesendet.
Durch Verwendung der Signale vom optischen Probenmesssystem und vom Beleuchtungsüberwa-
chungssensor für die Berechnung, werden geringfügige Schwankungen der spektralen Eigenschaften
und der Beleuchtungslichtstärke kompensiert (Zweistrahlsystem).
D-120
2 Auffangen
a: Von der Probe reflek-
tiertes Licht wird auf-
gefangen.
b:Die Lichtstreuung in
der Messkugel wird
aufgefangen.
3 Erfassen
Licht wird zum opti-
schen Probenmesssys-
tem oder dem optischen
Beleuchtungsüberwa-
chungssystem
gesen-
det. Dort wird das Licht
im
Wellenlängenbe-
reich von 360 bis 740
nm unterteilt in 10-nm-
Anteile. Signale, die
proportional zur Licht-
stärke der jeweiligen
Anteile sind, werden
zum analogen Verar-
beitungsstromkreis ge-
sendet.
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Fehlerbehebung
