Grundlagen Der Messungen; Beleuchtungs-/Betrachtungssystem; Empfangen - Konica Minolta CM-700d Benutzerhandbuch

Grundlagen der Messungen

Beleuchtungs-/Betrachtungssystem

Dieses Messgerät verwendet die di:8°/de:8°-Geometrie in Übereinstimmung mit den Standards CIE Nr.
15, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7, ISO 7724/1 und JIS Z8722-1982 (diffuse Beleuchtung, 8°-
Betrachtungswinkel). Es ermöglicht Messungen mit automatischer Umschaltung zwischen „mit Glanz"
(SCI = Specular Component Included) und „ohne Glanz" (SCE = Specular Component Excluded).
Nachfolgend finden Sie den Messablauf dargestellt.
1 Beleuchten
Das von der
Xenon-Blitzlampe
abgestrahlte Licht
wird in der
Messkugel gestreut
und beleuchtet die
Probe
gleichmässig aus
allen Raumwinkeln.
1 Das Licht der Xenon-Lampe wird auf der Innenfläche der Messkugel gestreut und beleuchtet die
Probe gleichmäßig aus allen Raumwinkeln.
2 a: Das von der Probenfläche in einem Winkel von 8° zur Oberfläche reflektierte Licht wird zum
Sensor-System geleitet.
b: Ein Teil des innerhalb der Kugel gestreuten Lichts wird vom Beleuchtungsüberwachungssystem
aufgenommen und ebenfalls an das Sensor-System geleitet.
3 Das von der Probenfläche reflektierte und vom Beleuchtungsüberwachungssystem aufgenomme
Licht werden in die entsprechenden Wellenlängenintervalle unterteilt. Mittels dieses
Zweistrahlsystems erkennt und kompensiert das Messgerät selbst geringfügige Schwankungen der
spektralen Zusammensetzung und Intensität der Beleuchtung und sorgt somit für präzise und
reproduzierbare Messergebnisse, aufgenomme.
D-128

2 Empfangen

a:Das von der Probe
unter einem Winkel
von 8° reflektierte
Licht wird vom
Sensor
aufgenommen.
b:Intensität und
spektrale
Zusammensetzung
des Lichtes innerhalb
der Kugel wird
aufgenommen.
3 Messen
Das Licht wird zum
optischen System
geleitet. Dort wird
das Licht im
Wellenlängenbereich
von 400 bis 700 nm
in 10 nm Intervalle
aufgespalten.
Anschließend
wandeln die
lichtelektrischen
Empfänger die
Lichtstärke
proportional in
elektrische Signale
um.