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Verschmutzungs- Und Störmeldeausgang; Testeingang; Fehlersichere Halbleiterausgänge - Siemens Siguard 3rg7842 Technisches Handbuch

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3.5.3
Verschmutzungs- und Störmeldeausgang
Über Dip-Schalter S1 kann anstelle der RS-485 Schnittstelle ein kurzschlußfester
Meldeausgang für "Schwachsignal bzw. Störung" auf die Anschlußklemme 6 ge-
schaltet werden. Der PNP-Ausgang führt +24 V, bei Verschmutzung oder Störung
wird er hochohmig geschaltet.
3.5.4

Testeingang

SIGUARD Lichtvorhänge und Lichtgitter verfügen als AOPD Typ 4 über eine perma-
nente Selbstüberwachungsfunktion, die Fehler im System sowie Querschlüsse und
Kurzschlüsse an den Ausgangsleitungen selbsttätig aufdeckt. Ein externes Test-
signal ist hierzu nicht erforderlich. Um die nachgeschalteten Schütze zu testen, kann
eine externe Steuerung (z.B. Schützkombination) über ein Testsignal die OSSD-
Ausgänge des Empfängers ausschalten und das Abfallen der Schaltglieder auf-
prüfen. Wird diese Testfunktion nicht benötigt, ist die Anschlußklemme 3-4 des Sen-
ders mit einer Brücke zu beschalten (werkseitig bereits eingesetzt).
3.6
Fehlersichere Halbleiterausgänge
Die beiden Schaltausgänge OSSD1 und OSSD2 des Empfängers sind aktiv über-
wachte PNP-Halbleiterausgänge zum Schalten masseseitiger Lasten bis zu 0,3 A.
Die Ausgänge sind HIGH-aktiv und führen bei freiem Schutzfeld die Spannung
U
= U
OSSD
versorgung
maximal 2 V.
Um die sichere Funktion der Ausgänge zu überwachen, werden die Ausgänge
zyklisch alle 140 µs (Kanal 1) bzw. alle 80 µs (Kanal 2) auf AUS geschaltet. Ein Quer-
schluß zwischen den Ausgangsleitungen 3 und 4 des Empfängers wird unmittelbar
nach dem Signalwechsel der Ausgänge von AUS auf EIN von der Selbstüber-
wachungsfunktion aufgedeckt und führt dazu, daß beide Ausgänge auf AUS schal-
ten, solange der Querschluß besteht. Bei einem Kurzschluß eines Ausgangs gegen
+24 V wird der andere OSSD-Ausgang auf AUS geschaltet, solange der Kurzschluß
besteht. Kurzschlüsse gegen +24 V und 0 V sowie Querschlüsse zwischen OSSD1
und OSSD2 werden angezeigt und führen nicht zur Zerstörung der Ausgänge
(Beschaltung siehe Kapitel 5.2).
Die Halbleiterausgänge sind mit einer Schnellentregungsfunktion ausgestattet.
Funkentstörglieder sind nicht erforderlich. Die Schnellentregungsfunktion verringert
die Schützabfallzeit gegenüber konventioneller Ansteuerung von Schützen mit
Freilaufdioden um ein Vielfaches. Dies führt insgesamt zu einer kürzeren Reaktions-
zeit der Schutzeinrichtung.
- 2,7 V. Bei unterbrochenem Schutzfeld beträgt die U
OSSD
11

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