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Bedienbereich Programm
6.5
Mehrkanal-Schrittkettenprogrammierung (Option)
Simulationsergebnis
Suchlauf
Zeitauswertung
Zeit-
Auswertung
6-280
•
Jeder Sequenzschritt ist für sich getrennt zu starten und kann
auch getrennt zurückgesetzt werden.
•
Ein abschnittsweiser Wechsel der Spindeleinheit innerhalb eines
Sequenzschrittes ist zulässig und wird mittels Schlüsselwörtern
aus dem Programm heraus gesteuert.
•
Der abschnittsweise Kanalwechsel innerhalb des Programmab-
laufs wird nur in Verbindung mit der Vorgabe von entsprechen-
den Programmlabels (Bahnmarken), die entweder manuell pro-
grammiert werden oder auch maschinell mittels integrierter Funk-
tionen erzeugt werden können, unterstützt.
Durch das Überlagerungsprinzip der Teilbearbeitungen aus der Bear-
beitungsliste auf einem Rohteil ändert der abschnittsweise Simulati-
onsmodus nur die Ablauffolge der Bearbeitungsabschnitte in der Gra-
fik. Es ändert sich nichts am Gesamtergebnis.
Die Liste der Bearbeitungsschritte, zu denen im aktuellen Simulati-
onszustand ein Zwischenmodell im Grafikmodul zur Verfügung steht,
ermöglicht ein direktes Anwählen eines Abschnittes in der Simulation.
Siehe auch "Anzeige und Farben"/Bahnmarken verwalten.
Der entsprechende Abschnitt wird ausgewählt und mit OK bestätigt.
Die Simulation steht dann am Beginn dieses Abschnittes und basiert
auf dem Zustand, den der vorausgehende Abschnitt beim letzten
Ablauf hinterlassen hat.
Die Tabelle zeigt, zu den in der vorgegebenen Ablauffolge bis zum
aktuellen Zustand simulierten Bearbeitungsabschnitten, jeweils an
den Abschnittsgrenzen die programm-bezogene Auswertung der si-
mulationsinternen Zeitermittlung in kumulierter Form unter Berück-
sichtigung von pauschalen Nebenzeit-Vorgaben (für T-, S-, M- und
H-Funktionen falls vorhanden).
Die Abschnittsgrenzen sind durch die zugehörigen ASCII-Labels die
aus „Stopp-Label" (falls vorhanden) abgeleitet wurden bzw. am
Programmende mit M30 gekennzeichnet. Zeiten sind am jeweiligen
Abschnittsende ermittelt.
SINUMERIK 840Di sl/840D sl/840D Bedienhandbuch HMI-Advanced (BAD) - Ausgabe 01/2008
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01/2008
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