Reaktionszeiten Bei Fehlersicheren Digitalen Eingabemodulen - Siemens Simatic ET200iSP Betriebsanleitung

Reaktionszeiten
D.2 Reaktionszeiten bei fehlersicheren digitalen Eingabemodulen
D.2

Reaktionszeiten bei fehlersicheren digitalen Eingabemodulen

Reaktionszeit des EM 8 F-DI Ex NAMUR
Die Reaktionszeiten des EM 8 F-DI Ex NAMUR sind abhängig von der Parametrierung der
einzelnen Kanäle bzw. Kanalpaare. Die Reaktionszeiten der einzelnen Kanäle bzw.
Kanalpaare errechnen sich unabhängig von den anderen Kanälen bzw. Kanalpaaren.
Eine Komponente der Reaktionszeit ist die interne Aufbereitungszeit des Moduls. Diese ist
abhängig von den Parametern des entsprechenden Kanals bzw. des Kanalpaars. In die
Formeln für die Reaktionszeit setzen Sie die Werte gemäß Ihrer Parametrierung ein. Die Werte
finden Sie in der folgenden Tabelle.
Tabelle D-1
1oo1 (1v1)-Auswertung
1oo2 (2v2)-Auswertung mit Dis‐
krepanzverhalten = "0-Wert be‐
reitstellen"
1oo2 (2v2)-Auswertung mit Dis‐
krepanzverhalten = "Letzten gül‐
tigen Wert bereitstellen"
● Reaktionszeit bei 1oo1 (1v1)-Auswertung (fehlerfreier und fehlerhafter Betrieb)
Reaktionszeit = interne Aufbereitungszeit
Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest}
● Reaktionszeit bei 1oo2 (2v2)-Auswertung mit Diskrepanzverhalten = "0-Wert bereitstellen"
(fehlerfreier und fehlerhafter Betrieb)
Reaktionszeit = interne Aufbereitungszeit
Gebertest
Gebertest
● Reaktionszeit bei 1oo2 (2v2)-Auswertung mit Diskrepanzverhalten = "Letzten gültigen Wert
bereitstellen" (fehlerfreier Betrieb)
Reaktionszeit = interne Aufbereitungszeit
(Zeit für Gebertest
Gebertest
Falls der Geberversorgungstest fehlschlägt, wird der Test wiederholt. Diese Wiederholung
wirkt sich auf die Reaktionszeit nur bei 1oo2 (2v2)-Auswertung mit Diskrepanzverhalten =
"Letzten gültigen Wert bereitstellen" aus.
● Reaktionszeit bei 1oo2 (2v2)-Auswertung mit Diskrepanzverhalten = "Letzten gültigen Wert
bereitstellen" (fehlerhafter Betrieb)
Reaktionszeit = interne Aufbereitungszeit
{ (Zeit für Gebertest
Gebertest
Erläuterungen
Interne Aufbereitungszeit abhängig gemäß Parametrierung – siehe obige Tabelle "Interne
1)
Aufbereitungszeit des EM 8 F-DI Ex NAMUR in Abhängigkeit von der Parametrierung"
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Interne Aufbereitungszeit des EM 8 F-DI Ex NAMUR in Abhängigkeit von der
Parametrierung
Geberversorgungstest deakti‐
viert
22 ms
22 ms
35 ms
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n)
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n+4)
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n)
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n+4)
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n)
+ Hochlaufzeit des Sensors nach Gebertest
KANAL(n+4)
Geberversorgungstest aktiviert
25 ms
25 ms
48 ms
+ Eingangsverzögerung + {Zeit für Gebertest +
1)
2)
+ Eingangsverzögerung + MAX { (Zeit für
1)
KANAL(n)
KANAL(n+4)
+ Eingangsverzögerung + Diskrepanzzeit +
1)
KANAL(n+4)
+ Eingangsverzögerung + Diskrepanzzeit + 2 x
1)
KANAL(n+4)
Dezentrales Peripheriegerät ET 200iSP - Fehlersichere Module
Betriebsanleitung, 08/2016, A5E38986012-AA
) , (Zeit für
2)
) }
2),3)
) + (Zeit für
2)
KANAL(n)
)
2),3)
) + (Zeit für
2)
KANAL(n)
) }
2),3)