MICRO-EPSILON reflectCONTROL Sensor Betriebsanleitung Seite 23

Anhang | Beschreibung GenICAM | Ver 1.8
Name
Measurement Control
PatternWidth[PatternWidthSelector]
PatternWidth
PatternCount
AmplitudeThreshold
PatternType
MinimumIntensityThreshold
MaximumIntensityThreshold
PatternSensitivity
reflectCONTROL Sensor
Locked Description
Width of sine stripes on monitor.
Width of sine stripes on monitor.
Number of different sine stripe images used for calculation.
3D mask generation
Selects the type of pattern projection.
Threshold to sort out underdriven pixels.
Threshold to sort out overdriven pixels.
Sets the bit depth of the camera images for improvement on dark
areas. (Standard - 8 Bit / Enhanced - 12 Bit)
Die mit „Locked" markierten Parameter können bei aktiver Datenübertragung nicht geändert werden.
Dokumentation Text DE
Die Streifenbreite des Sinusmusters auf dem Bildschirm.
Die Streifenbreite des Sinusmusters auf dem Bildschirm.
Die Anzahl der Sinusmuster und der aufzunehmenden Bilder, die für
einen Messvorgang verwendet werden.
Für die Berechnung der Ergebnisse werden nur Pixel verwendet, deren
Amplituden-Wert (vor Offset und Skalierung) größer als dieser
Schwellwert ist. So können ungewünschte Pixel mit niedrigem
Reflexionsgrad (z.B. außerhalb des Messobjekts oder im Randbereich)
ausgeschlossen werden.
Stellt vordefinierte Einstellmöglichkeiten für die Anzahl der Sinusmuster
und der aufzunehmenden Bilder, die für einen Messvorgang verwendet
werden zur Verfügung:
- HighSpeed 4
- Balanced: 6
- HighPrecision: 12
- Custom: Wählen Sie einen benutzerdefinierten Wert für die Anzahl der
Sinusmuster (siehe „PatternCount")
Schwellwert zur Filterung von unterbelichteten Pixeln.
Schwellwert zur Filterung von überbelichteten Pixeln.
Definiert die Bittiefe der Kamerabilder, um dunkle Bereiche zu
verbessern. (Standard - 8 Bit / Erweitert - 12 Bit)