Messung Des Isolationswiderstands Spezifische Bezugsbedingungen - Chauvin Arnoux C.A 6116 Installations Anleitung

8.2.5. MessUnG Des IsolAtIonswIDerstAnDs
spezifische Bezugsbedingungen:
Parallelkapazität: Null.
Max. zul. externe AC-Spannung während der Messung: Null.
Frequenz der externen Spannungen: DC und 15,8 ... 65 Hz.
Eine korrekte Anzeige der Frequenz erfolgt erst bei Spannungen ≥ 20 V .
Leerspannung:
Nennstrom:
Kurzschlussstrom:
Eigenunsicherheit bei Messung der Prüfspannung:
Messbereich bei 50 V
Messbereich bei 100 V
Messbereich bei 250 V
Messbereich bei 500 V
Messbereich bei 1000 V
Auflösung
Eigenunsicherheit bei 50 V
Eigenunsicherheit bei anderen Spannungen
Betriebsunsicherheit bei 50 V
Betriebunsicherheit bei anderen Spannungen
typische einschwingzeit der Messung (abhängig vom Prüfling)
Diese Werte berücksichtigen die Einflüsse der kapazitiven Last, der automatischen Bereichswahl und der
Prüfspannungseinstellung.
Prüfspannung
50 V - 100 V - 250 V
- 500 V - 1000 V
typische entladedauer einer kapazitiven komponente auf 25 v
Prüfspannung
Entladedauer (C in µF)
typischer kurvenverlauf der Prüfspannung (lastabhängig)
Spannung in Abhängigkeit des gemessenen Widerstands:
Last nicht kapazitiv
10 MΩ 1 s
1000 MΩ 1 s
50 V
0,25 s x C
U
N
R
1,1 x U oder 1,2 x U
N N
≥ 1 mA
≤ 3 mA
± (1,5% + 2 D)
0,01 - 7,99 MΩ 8,00 - 39,99 MΩ
0,01 - 3,99 MΩ 4,00 - 39,99 MΩ
0,01 - 1,99 MΩ 2,00 - 39,99 MΩ
0,01 - 0,99 MΩ 1,00 - 39,99 MΩ
0,01 - 0,49 MΩ 0,50 - 39,99 MΩ
10 kΩ
± (5% + 2 D)
± (5% + 2 D)
± (12% + 2 D)
± (12% + 2 D)
mit 100 nF
2 s
4 s
100 V
0,5 s x C
I = 1 mA
= U / 1 mA
N N
71
wenn U = 50 V.
N
40,0 - 399,9 MΩ
10 kΩ 100 kΩ
± (2% + 2 D)
± (2% + 2 D)
± (10% + 2 D)
± (10% + 2 D)
mit 1 µF
12 s
30 s
250 V 500 V
1 s x C 2 s x C
400 - 1999 MΩ
1 MΩ
± (4% + 2 D)
± (12% + 2 D)
1000 V
4 s x C