Herstellererklärung Zur Elektromagnetischen Verträglichkeit (Emv) - Leica M844 F20 Gebrauchsanweisung

Herstellererklärung zur Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV)
Grundlage dieses Dokuments Leitlinien und Herstellererklärung ist die EN 60601-1-2:2007.
Tabelle 1 nach EN 60601-1-2:2007
Leitlinien und Herstellererklärung – Elektromagnetische Aussendung
die operationsmikroskope leica M820 und leica M844 sind für den Betrieb in einer wie unten angegebenen Umgebung bestimmt.
der Kunde oder der anwender der operationsmikroskope leica M820 und leica M844 sollte sicherstellen, dass es in einer derartigen Umgebung betrieben wird.
Störaussendungmessung
HF – aussendung nach cisPR 11
HF – aussendung nach cisPR 11
aussendung von oberschwingungen nach
iec 61000­3­2
aussendung von spannungsschwankungen/
Flicker nach iec 61000­3­3
Übereinstimmung Elektromagnetische Umgebung Leitfaden
Gruppe 1 die operationsmikroskope leica M820 und leica M844 verwenden HF­energie
ausschließlich zu ihrer internen Funktion. daher ist seine HF­aussendung sehr
gering, und es ist unwahrscheinlich, dass benachbarte elektronische Geräte gestört
werden.
Klasse a die operationsmikroskope leica M820 und leica M844 sind für den Gebrauch in
anderen einrichtungen als dem Wohnbereich und solchen geeignet, die
unmittelbar an ein öffentliches versorgungsnetz angeschlossen sind, das auch
Klasse a
Gebäude versorgt, die zu Wohn zwecken dienen.
stimmt überein
leica M844 – leica M820 / Ref. 10 713 294 / version 00
sicherheitshinweise
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