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4 Messanleitungen
Ladefehler aufgrund von Eingangswiderstand
Messungsbezogene Ladefehler treten auf, wenn der Widerstand des zu testenden Geräts ein akzeptabler
Prozentsatz des Eingangswiderstands des Geräts ist. Die nachfolgende Darstellung zeigt diese Fehlerquelle:
Wobei:
V
= ideale Spannung des zu testenden Geräts
s
R
= DUT-Quellwiderstand
s
R
= Eingangswiderstand (10 MΩ oder >10 GΩ)
i
Stellen Sie den DC-Eingangswiderstand des DMM bei Bedarf auf mehr als 10 GΩ ein, um Ladefehler zu minimieren.
Ladefehler aufgrund von Eingangsstrom
Die in den Eingangskreisen des internen DMM verwendeten Halbleitergeräte verfügen über geringfügige
Kriechströme, die als Eingangsströme bezeichnet werden. Der Eingangsstrom bewirkt einen Ladefehler an den
Eingangsanschlüssen des internen DMM. Der Kriechstrom verdoppelt sich bei jedem Temperaturanstieg von 10 °C,
weshalb das Problem bei höheren Temperaturen viel offensichtlicher wird.
Wobei:
Ib = DMM-Eingangsstrom
Rs = DUT-Quellwiderstand
Ri = Eingangswiderstand (10 MΩ oder >10 GΩ)
Ci = DMM-Eingangskapazität
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Keysight DAQ970A/ DAQ973A Benutzerhandbuch
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