Tirf-Mikroskopie (Total Internal Reflection Fluorescence); Bedingungen Für Die Mikroskopie - Olympus Wi-Cdeva Bedienungsanleitung

TIRF-MIKROSKOPIE
(TOTAL INTERNAL REFLECTION FLUORESCENCE)
Bei diesem Mikroskopieverfahren kommt ein Laserstrahl zur Anwendung.
Folgende Vorsichtsmaßnahmen beachten:
· Niemals ein Teil entfernen, an dem ein Warnhinweis angebracht ist.
· Vor dem Auswechseln eines Filtermoduls oder der Videokamera stets den Verriegelungsschalter mit Schlüs-
sel ausschalten (OFF) und darauf achten, dass die Laseremissionsanzeige erloschen ist.
3-1 Bedingungen für die Mikroskopie
Auf die folgenden Umgebungsbedingungen für den Laserbetrieb achten:
· Temperatur: 18 bis 28°C (garantierte Leistung), 10 bis 35°C (garantierte Laseroszillation).
· Luftfeuchtigkeit: 30% bis 80% (kondensationsfrei).
· Anregungswellenlängen: 400 bis 700 nm.
Bei der TIRF-Mikroskopie folgende Vorsichtsmaßnahmen beachten:
· Geeignete Objektive:
· Geeignete Anregungs-Filtermodule:
· Der Durchmesser des beleuchteten Felds bei Totalreflexionsbeleuchtung beträgt:
· Da die Frontlinse aus Sicherheitsgründen fest angebr acht ist, beträgt der maximale Durchmesser des be-
· Aus Sicherheitsgründen wir d Durchlichtbeleuchtung mit L aserlicht durch einen Anschlagmechanismus v erhindert.
· Die Aperturblende des Kondensors muss bei TIRF-Mikroskopie geöffnet bleiben.
# Für andere Mikroskopieverfahren die folgenden Vorsichtsmaßnahmen beachten:
· Phasenkontrastmikroskopie ist nicht möglich.
· Der DIC-Schieber kann aus Gründen der Lasersicherheit nicht verwendet werden. Das DIC-Prisma kann von der
· Bei DIC-Mikroskopie (Differentieller Interferenzkontrast) mit den DIC-Prismen U-DPO60S oder U-DP100 kann
· Bei Verwendung des Tisches IX2-SVL-2 ist dessen Verfahrweg in X- und Y-Richtung aufgrund der Größe der
# Vorsichtsmaßnahmen für TIRF-Mikroskopie und Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie (Quecksilber):
Zur Vermeidung von Störbildern das System einrichten, wie unten bschrieben.
· Die Viertel-λ-Platte (mit dem WI-CDEVA geliefert) aus dem Strahlengang ausschwenken.
· Die Filter- und Filterschieberpositionen des Filterrevolvers (mit dem BX51/61WI geliefert) leer lassen.
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XLUMPlanFl20XW, UMPlanFl20X W, LUMPlanFl40X W, LUMPlanFl40X W/IR-2, LUMPlanFl60X W,
LUMPlanFl60XW/IR-2, LUMPlanFl100XW.
Anregungs-Filtermodule
IB-Anregung
R-Anregung
G-Anregung
· Die Buchstaben in { können entweder SW, W oder N sein.
· In Bezug auf Filtermodule für mehrer e Anregungswellenlängen wenden Sie sich bitte an Olympus.
Bei ausgeschwenkter Vorsatzlinse:
Bei eingeschwenkter Vorsatzlinse:
40X-Objektiv).
leuchteten Felds bei Dur chlicht
leuchtete Feld für ein 4X-Objektiv nicht aus.
Oberseite des Tisches aus eingeschw enkt w erden. F olgende DIC -Prismen v erwenden: 20X DIC -Prisma:
WI-EVADIC20HR, 60X DIC-Prisma: U-DPO60S, 1 00X DIC-Prisma: U-DP100. Andere DIC-Prismen sind ungeeignet.
der Kontrast eventuell durch Regulieren der Aperturblende verbessert werden.
Kondensor-Frontlinse und des kurzen Arbeitsabstands begrenzt (innerhalb von ±4,5 mm).
U-M{IB2
U-M{IBA2
(Handelsübliches
Produkt)
U-M{G2
0,55 mm (Sehfeldzahl 11 mit dem 20X-Objektiv).
0,28 mm (Sehfeldzahl 16,5 mit einem 60X-Objektiv und 11 mit einem
2,2 mm (Sehfeldzahl 22 mit dem 1 0X-Objektiv). Folglich reicht das be-
Laser (Wellenlänge)
Ar-Laser (488 nm)
HeNe-R-Laser (633 nm)
HeNe-G-Laser (543 nm)