6.2.5. MESSUNG DES ISOLATIONSWIDERSTANDS
Spezifische Bezugsbedingungen:
Parallelkapazität: < 1 nF.
Max. zul. externe AC-Spannung während der Messung: Null.
DC Spannungsmessung
Messbereich
Auflösung
Eigenunsicherheit
Eingangsimpedanz
Isolationswiderstand
Messbereich
Messbereich bei 250 V
Messbereich bei 500 V
Messbereich bei 1000 V
Auflösung
Eigenunsicherheit
Leerspannung
Nennstrom
Kurzschlussstrom
Typischer Kurvenverlauf der Prüfspannung (lastabhängig)
Spannungsverlauf in Abhängigkeit vom gemessenen Widerstand:
Typische Einschwingzeit der Messung (abhängig vom Prüfling)
Prüfspannung
250 V - 500 V - 1000 V
Typische Entladedauer einer kapazitiven Komponente auf 25 Vdc
Prüfspannung
Entladezeit (C in µF)
± (0,0 - 999,9 V)
0,1 V
± (1% L + 2 D)
0,01 - 1,99 MΩ
0,01 - 0,99 MΩ
0,01 - 0,49 MΩ
10 kΩ
±(5% L + 3 D)
I = 1 mA
U
N
R
= U
/ 1 mA
N
N
Last
nicht kapazitiv
10 MΩ
1 s
100 MΩ
1 s
250 V
500 V
1 s x C
2 s x C
± (1.000 - 1.200 V)
10 MΩ
0,00 - 99,99 MΩ
2,00 - 99,99 MΩ
1,00 - 99,99 MΩ
0,50 - 99,99 MΩ
10 kΩ
±(3% L + 3 D)
≤ 1,25 x U
≥ 1 mA
≤ 3 mA
mit 100 nF
2 s
4 s
1000 V
4 s x C
40
1 V
± (1% L + 2 D)
100,0 - 999,9 MΩ
100,0 - 999,9 MΩ
100,0 - 999,9 MΩ
100,0 - 999,9 MΩ
100 kΩ
±(3% L + 3 D)
N
mit 1 µF
12 s
30 s