Verschaltung Mit Eingang Mit Masserückführung - Siemens SIMATIC ET 200SP HA Gerätehandbuch

6.5 Anwendungsfall 3: Anschluss Anschluss eines fehlersicheren Digitaleingangs pro fehlersicherem
Querschluss zu anderem Ausgang
An einem nicht passivierten, nicht angesteuerten Ausgang kann es bei einem Querschluss zu
einem anderen Ausgang zu einem 1-Signal mit der Dauer des parametrierten Werts von
"Maximale Testzeit (s)" kommen.
Im Fall eines Querschlusses zwischen zwei Ausgängen werden die Testimpulse des Helltests
des jeweilig anderen Ausgangs ebenfalls sichtbar. Bei unterschiedlicher Einstellung des
Parameters "Max. Zeit für Helltest/Dunkeltest (ms)" kann es dadurch zu zyklisch auftretenden
1-Signalen mit der Dauer der längsten parametrierten Helltestzeit kommen.
Wenn sich die oben genannten 1-Signale bei einem Querschluss zwischen Ausgängen
gefährlich auf die Anlage auswirken, dann müssen Sie Querschlüsse zwischen Ausgängen
durch querschlusssichere Verlegung, z. B. als separate ummantelte Leitungen oder eigenen
Kabelkanälen, vermeiden.
(FDQW-012)
Verschaltung mit Eingang mit Masserückführung
Zur Erreichung von SIL3 / Kat.4 / PLe beachten Sie Abschnitt "Verlegung der Masseleitung
zwischen dem Netzteil und dem Terminalblock (Seite 40)".
Bei diesem Anwendungsfall für potentialfreie fehlersichere Digitaleingänge wird der Anschluss
DI - des fehlersicheren Digitaleingangs auf die interne Masse M
n
Digitalausgabemoduls F-DQ 10x24VDC/2A PP HA zurückgeführt.
Hinweis
Die hier genannten "potentialfreien fehlersicheren Digitaleingänge" können auch Teil eines
Geräts eines Fremdherstellers sein.
Verdrahtungsschema eines Ausgangs des Digitalausgabemoduls F-DQ 10x24VDC/2A PP
HA mit einem potentialfreien, fehlersicheren Digitaleingang (mit Masserückführung)
F-DQ 10x24VDC/2A PP HA
Gerätehandbuch, 03/2022, A5E45647650-AD
WARNUNG
Anwendungsfälle des F-Peripheriemoduls
des fehlersicheren
n
Digitalausgang
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