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Messcharakteristika - Canon EOS 33 Bedienungsanleitung

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Messcharakteristika

Die Kamera bietet drei verschiedene Messcharakteristika: Mehrfeldmessung,
Selektivmessung und mittenbetonte Integralmessung.
• Die Einstellung der Messcharakteristik ist in den Funktionen des Kreativbereichs
möglich.
Selektivmessung und FE-Speicherung können an das aktive AF-Messfeld
geknüpft werden. (Siehe Seite 89 – C.Fn-8-1.)
1
Drücken Sie die Taste <
Wählen Sie die gewünschte
2
Messcharakteristik.
• Blicken Sie auf die LCD, und drehen Sie das
Einstellrad <
gewünschten Messcharakteristik erscheint.
Mehrfeldmessung
Diese Messcharakteristik eignet sich für die Mehrzahl der Motive,
selbst bei Gegenlicht. Das Sucherfeld ist in 35 Messsektoren
unterteilt, die ihrerseits mit den sieben AF-Messfeldern verknüpft
sind. Zur Ermittlung der Belichtungsdaten ermittelt die Kamera
die Lage und Helligkeit des Hauptobjekts, des Hintergrunds, die
Allgemeinbeleuchtung, Gegenlicht und andere Faktoren.
• Bei manueller Fokussierung ist die Mehrfeldmessung mit dem
zentralen AF-Messfeld verknüpft.
Selektivmessung
Dieses Verfahren eignet sich besonders für Gegenlichtmotive.
Die Messung erfolgt über eine Fläche, die etwa 10% des
Sucherfeldes in der Bildmitte ausmacht.
Mittenbetonte Integralmessung
Hier wird die Belichtung mit besonderer Gewichtung der
Bildmitte über das Sucherfeld integriert.
>. (
>, bis das Symbol der
)
49

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Diese Anleitung auch für:

Eos 33date

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