Olympus Vanta M Serie Benutzerhandbuch Seite 88

DMTA-10072-01DE, Überarbeitung A, Februar 2016
HINWEIS
Beschichtete Prüfteile bei Siliziumtests nicht mit quarzhaltigem Schleifmaterial bear-
beiten.
Es ist nicht unbedingt nötig alle Prüfteile ganz zu säubern und abzuschleifen. Sichtba-
rer Metallstaub sollte jedoch entfernt werden.
Gemischte Proben, heterogene Materialien
Ein fertiges Metallstück kann aus mehr als einem Metall bestehen. Oder es sollen ver-
mischte Drehspäne oder eine Sammlung von kleinen Teilen geprüft werden. Beachten
Sie dabei, dass der Analysator den gesamten, vom Messfenster gedeckten Bereich
analysiert und dass das Ergebnis ein Mittelwert der chemischen Zusammensetzung
ist.
HINWEIS
Vergewissern Sie sich, dass beim Analysieren von Metallteilen oder Schweißnähten
nur das zu messende Metallteil vom Messfenster erfasst wird.
Kleine und unregelmäßig geformte Teile
Um Proben zu messen, die kleiner als das Messfenster sind:
• muss die Messzeit verlängert werden
• muss das Material in optimaler Lage analysiert werden
Da das Signal von kleinen Teilen nicht so intensiv ist, wie das von Teilen, die das
Messfenster völlig decken, ist die Genauigkeit der Analyse bei kleinen Teilen gerin-
ger. Analysieren Sie deshalb wenn möglich, die größte, flachste Seite von unregelmä-
ßig geformten Teilen.
HINWEIS
• Verhindern Sie, dass kleine, scharfe Objekte das Messfenster des Analysators
durchstechen. Solche Objekte zu können Schaden führen, der teure Reparaturen
erfordert.
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