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Strahlungsthermometer Für Generelle Anwendungen - Heitronics KT 19 II Bedienungsanleitung

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2.2 Strahlungsthermometer für GENERELLE ANWENDUNGEN
Mit den Strahlungsthermometern Typ KT 19.81 II / KT 19.82 II / KT 19.83 II können
Oberflächentemperaturen in den Grenzen von - 50 ... 1000 °C gemessen werden. Die
spektrale Empfindlichkeit liegt im Bereich des atmosphärischen Fensters von 8...14 µm.
Da in diesem Spektralbereich die Transmission der Atmosphäre sehr gut ist, ist keine
Schwächung der Infrarotstrahlung durch CO, oder dem in der Luft enthaltenen Wasser-
dampf zu erwarten.
Für besonders hohe Anforderungen an die Transmission der Atmosphäre, wie sie bei-
spielsweise bei meteorologischen Messungen auftreten können, steht der Typ
KT 19.85 II zur Verfügung.
Die Typen KT 19.81 II / KT 19.82 II / KT 19.83 II können für die Temperaturbestim-
mung bei der Herstellung und Verarbeitung von Kunststoffen, Gummi, Papier, Textilien,
Farben, Lacken, Keramiken usw. eingesetzt werden. Den Emissionsgrad von ver-
schiedenen Materialien zeigt Abb. 10, Kap. ABBILDUNGEN.
Die Geräte können auch zur Temperaturmessung an Objekten unter Infrarotstrahler-
einwirkung verwendet werden, da das Strahlungsmaximum von Infrarotstrahlern bei
kürzeren Wellenlängen liegt, für die die Strahlungsthermometer KT 19.81 II /
KT 19.82 II / KT 19.83 II unempfindlich sind.
Das Strahlungsthermometer KT 19.81 II misst im Spektralbereich 8 ... 10 µm. Neben
der Breitenanwendung ist dieser Typ auch zur Messung von dickeren Folien geeignet.
Das Strahlungsthermometer Typ KT 19.82 II misst im Standardmessbereich 8 ... 14 µm
und garantiert eine gute Signalauflösung.
Das Strahlungsthermometer Typ KT 19.83 II besitzt wegen des breiten Spektralberei-
ches besonders hohe Signalauflösung. Es ist daher zur Messung tiefer Temperaturen
besonders geeignet.
Das Strahlungsthermometer Typ KT 19.85 II arbeitet im Spektralbereich 9,6 ... 11,5 µm,
in dem die Transmission der Atmosphäre besonders hoch ist.
ALLGEMEINES
95582716
03/02/14d
HEITRONICS Infrarot Messtechnik GmbH
2-2
KT19 II

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