Bezugsebene & Gridscan; Übersicht - Leica Viva Series Referenzhandbuch

44
44.1
Beschreibung
Bezugsebene &
GridScan Aufgaben


Aktivieren der
Applikation
Definition einer
Bezugsebene
Viva Series, Bezugsebene & GridScan
Bezugsebene & GridScan
Übersicht
Mit der Applikation Bezugsebene & GridScan können Punkte relativ zu einer
Bezugsebene aufgemessen werden.
Eine beliebige Fläche kann auch gescannt werden. Es kann entweder ein gleich-
mässiges Gitter auf einer vordefinierten Bezugsebene oder eine beliebige Oberfläche
mit einem winkel-basierten Raster gemessen werden.
Die Applikation Bezugsebene & GridScan kann für folgende Aufgabenstellungen
verwendet werden:
• Messung von Punkten, um den senkrechten Abstand zur Ebene zu berechnen und
zu speichern.
• Ansicht und Speicherung der Instrumenten- und/oder der lokalen Koordinaten
(Koordinaten in der Ebene) der gemessenen Punkte.
• Ansicht und Speicherung der Höhendifferenzen von den gemessenen Punkten zur
Ebene.
• GridScan einer vordefinierten Bezugsebene mit einem gleichmässigen Gitter
oder einer beliebige Oberfläche mit einem winkel-basierten Raster.
Ebenen können nur mit Gitterkoordinaten berechnet werden.
Das Scannen von Oberflächen ist für Instrumente mit reflektorlosem EDM
verfügbar.
Die Applikation Bezugsebene & GridScan muss über einen Lizenzcode freigeschaltet
werden. Siehe
"30.3 Lizenzcodes"
Bezugsebenen werden in einem Rechtssystem erstellt. Für zwei eine Ebene definie-
rende Punkte wird eine vertikale Ebene verwendet. Eine Bezugsebene wird durch die
X-Achse und die Z-Achse der Ebene definiert. Die Y-Achse der Ebene definiert die posi-
tive Richtung der Ebene. Eine Bezugsebene kann auf folgende Arten definiert werden:
• vertikal
• geneigt
• horizontal
P1
GS_058
für Informationen zur Aktivierung von Applikationen.
P3
P4
P2
P5
P1 Punkt, der eine Bezugsebene definiert
P2 Punkt, der eine Bezugsebene definiert
P3 Punkt, der eine Bezugsebene definiert
P4 Punkt, der eine Bezugsebene definiert
P5 Punkt, der eine Bezugsebene definiert
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