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Kombination Mit Dem Bx3M-Rlas-S - Olympus BXFM Bedienungsanleitung

Systemmikroskop
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Kombination mit dem BX3M-RLAS-S

Feineinstellung des Analysators
1
Falls der DIC-Schieber in den Strahlengang eingeschwenkt ist, diesen
ausschwenken. Einzelheiten siehe „4-8 Einsetzen des DIC-Schiebers"
(Seite 44).
2
Das 10x-Objektiv oder 20x-Objektiv in den Strahlengang einschwenken,
das Objekt scharfstellen.
3
Einen Stift mit feiner Spitze, z. B. einen Präzisions-Schraubendreher, in
die Kerbe a einführen und die Abdeckung damit entfernen.
4
Die Schraube b zum Entsperren lösen.
5
Das Einstellrad drehen, um den Analysator zu justieren.
Mikroskopie mit gekreuzten Polarisatoren*: Die weiße kreisförmige
Markierung c am Einstellrad mit der weißen Linie d ausrichten.
Mikroskopie ohne gekreuzte Polarisatoren*: Das mikroskopische
Bild beobachten und dabei das Einstellrad bis in die Position
drehen, die das gewünschte Bild entstehen lässt.
*
Mit „gekreuzten Polarisatoren" ist der Zustand gemeint, in dem das Sehfeld
am dunkelsten erscheint (totale Auslöschung).
Für DIC-Mikroskopie muss das Analysator-Einstellrad auf die
TIPP
Position der gekreuzten Polarisatoren eingestellt werden.
6
Die Schraube b anziehen, um das Einstellrad zu verriegeln.
7
Die Abdeckung wieder anbringen.
BXFM
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