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Auflichtmikroskopie Im Differentiellen Interferenzkontrast (Dic) - Olympus BXFM Bedienungsanleitung

Systemmikroskop
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4-3

Auflichtmikroskopie im differentiellen Interferenzkontrast (DIC)

1
Den Hauptschalter einschalten.
2
Mikroskopie im differentiellen
Interferenzkontrast/Polarisation (DIC/POL)
3
Den Analysator und Polarisator einstellen.
4
Den DIC-Schieber einstellen.
5
Den Strahlengang einstellen.
(Nur binokularer Kameratubus)
6
Ein Objekt auf den Sockel auflegen.
7
Das 10x-Objektiv in den Strahlengang
8
Das Objekt scharfstellen.
12
Die Aperturblende und die Leuchtfeldblende einstellen.
13
Das Objektiv mit der gewünschten Vergrößerung in den
Strahlengang einschwenken und das Objekt scharfstellen.
15
Das Prisma des DIC-Schiebers einstellen.
Mit der Mikroskopie beginnen.
38
auswählen.
einschwenken.
9
Die Helligkeit regulieren.
10
Den Augenabstand einstellen.
11
Die Dioptrien einstellen.
14
Die Helligkeit regulieren.
Hauptschalter des Vorschaltgerätes
Wahlschalter für das Mikroskopie-
verfahren am Auflichtkondensor
Analysatoreinschub / Polarisatorein -
schub des Auflichtkondensors
Einschub des Objektivrevolvers
Strahlengangwahlschieber des
binokularen Kameratubus
Tischeinlage
x-/y-Achsen-Trieb des Tisches
Objektivrevolver
Grob-/Feintrieb des BXFM-Stativs
Helligkeitsregler des
Vorschaltgerätes
Binokulartubus
Dioptrieneinstellring
Aperturblendenhebel des
Auflichtkondensors
Leuchtfeldblendenhebel des
Auflichtkondensors
Objektivrevolver
Grob-/Feintrieb des BXFM-Stativs
Helligkeitsregler des
Vorschaltgerätes
Prismenknopf des DIC-Schiebers
(Seite 16)
(Seite 16)
(Seite 42)
(Seite 44)
(Seite 18)
(Seite 18)
(Seite 18)
(Seite 19)
(Seite 20)
(Seite 21)
(Seite 23)
(Seite 23)
(Seite 30)
(Seite 27)
(Seite 19)
(Seite 20)
(Seite 21)
(Seite 45)

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