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2.3 Tasten für Grundtestfunktionen
Diese fünf Tasten wählen die Grundtestroutinen aus (siehe Abb. 2). Die Funktionen
werden bei der durch den Bediener angegebenen Adresse ausgeführt.
Die Tests sind:
SHORTS
Die SHORTS-Funktion ermittelt Kurzschlüsse auf Daten-, Adreß- oder
Steuerleitungen. Details dieser Funktion unter "Identifizierung von Kurz-
schlüssen" (Abschnitt 4.3).
PINS
Diese Funktion zeigt den Status der Steuereingänge des Prozessors an.
Jeder Eingang korrespondiert mit einem Bit des im Display angezeigten
Wertes. Details über die Bedeutung der Bits sind im Handbuch des
Interfaceadapters (Interface Pod) oder auf dessen Deckel ersichtlich.
Beispiel einer Display-Anzeige:
zeigt an, daß die Anschlüsse, korrespondierend zu Position 3 und 6,
logisch 1 sind, alle anderen logisch 0.
RAM
RAM testet die Schreib / Lesefähigkeit und die Adreßdekodierung des
RAM. Details unter "RAM Tests" (Abschnitt 4.6).
RAM LONG Diese Funktion führt eine Mustertestfunktion (Pattern Sensivity) durch.
Nähere Information unter "RAM Tests mittels Datenmuster" (Abschn. 4.7)
ROM
ROM berechnet die Prüfsumme (Checksum) eines bestimmten Bereiches
und zeigt das Ergebnis als vierstelligen Zahlenwert im Hexadezimalformat.
Während der Ausführung ist die jeweils getestete Adresse ersichtlich.
Am Tetstende wird die Prüfsumme z.B. wie folgt angezeigt:
Der B3T errechnet die Prüfsumme in der gleichen Art und Weise wie ein
gewöhnlicher EPROM - Programmer, d.h. im Normalfall sollte die Anzeige
auf beiden Geräten identisch sein.
B3T Bedienerhandbuch - ALLGEMEINE BESCHREIBUNG
PINS
01001000
ROM 0000 - 07FF
SUM = A269
Seite 2-3
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