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Messverfahren; Abbildung 25 Refraktometerprinzip - Vaisala K‑PATENTS PR-33-AC Benutzerhandbuch

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PR-33-AC Benutzerhandbuch
M212411DE-B
13. Messverfahren
Das Vaisala K-PATENTS® Inline-Refraktometer bestimmt den Brechungsindex n
der
D
Prozesslösung. Es misst den kritischen Brechungswinkel unter Verwendung einer gelben LED-
Lichtquelle mit der gleichen Wellenlänge (589 nm) wie die Natrium-D-Linie (daher n
). Das
D
Licht der Lichtquelle (L) in der Abbildung unten wird auf die Grenzfläche zwischen Prisma (P)
und Prozessmedium (S) gerichtet. Zwei der Prismenoberflächen (M) agieren als Spiegel, die
die Lichtstrahlen so biegen, dass sie aus verschiedenen Winkeln auf die Grenzfläche treffen.
A
C
B
L
P
M
M
S
Abbildung 25 Refraktometerprinzip
Die reflektierten Lichtstrahlen formen ein Abbild (ACB), in dem (C) der Position des kritischen
Winkelstrahls entspricht. Die Strahlen an (A) werden an der Prozessgrenzfläche vollständig
intern reflektiert, die Strahlen an (B) werden teilweise reflektiert und teilweise in die
Prozesslösung gebrochen. So wird das optische Abbild in einen hellen (A) und einen dunklen
Bereich (B) geteilt. Die Position der Grenzlinie (C) gibt den Wert des kritischen Winkels an. Der
Brechungsindex n
kann dann aus dieser Position bestimmt werden.
D
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