FLIR E series Schnelleinstieg Seite 11

• Pro měření vyberte oblast s vysokou
emisivitou (s matným povrchem).
• Lesklé objekty, tj. objekty s nízkou
emisivitou, se v kameře vlivem odrazů
mohou zobrazovat jako teplé nebo
studené.
• Při zaměření na detaily se snažte, aby
na ně nepadalo přímé sluneční světlo.
• Různé typy chyb a vad, jako jsou
například vady v konstrukci budovy, se
mohou zobrazovat jako vady se
stejným rozložení teplot.
• Správná analýza infračerveného
obrazu vyžaduje znalosti aplikace na
profesionální úrovni.
© 2012, FLIR Systems, Inc. All rights reserved worldwide.
Publ. no. T559524, rev. 016
CS-CZ Čeština
11