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LIMIT 610 Bedienungsanleitung Seite 53

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Español
Teste de diodos (mire fig. 3)
Use el teste de diodos para verificar diodos, transistores y otros dispositivos semi-conductores. El
teste de diodos envía una corriente a través de la junción de semi-conductores y entonces mede la
caída de voltaje en la junción. Una boa junción de silicona tiene una caída entre 0.5V y 0.8V.
Para testar un diodo fuera de un circuito, conecte como indicado a seguir:
1. Insiera la punta de teste roja en el borne HzV y la punta de teste negra en el borne COM.
2. Gire el selector rotativo para la posición de diodo (azul).
3. Apriete el botón azul para seleccionar la función de diodo. El visor indica el símbolo de diodo.
4. Para hacer la lectura de caída de voltaje en cualquier semi-conductor, posicione la punta de
teste roja sobre el componente ánodo y la punta de teste negra sobre el componente cátodo.
El valor medido aparece en el visor.
Teste de continuidad (Mire fig. 4)
Para testar la continuidad, conecte como indicado a seguir:
1. Insiera la punta de teste roja en el borne HzV y la punta de teste negra en el borne COM.
2. Gire el selector rotativo para la posición de continuidad (azul).
3. Apriete el botón azul para seleccionar la función de continuidad. El visor indica el símbolo de
continuidad.
4. Conecte las puntas de teste sobre el objeto a ser medido. La campanilla toca si la resistencia de
un circuito bajo teste está abajo de 70 .
Medida de capacitancia (Mire fig. 5)
1. Insiera la punta de teste roja en el borne HzV y la punta de teste negra en el borne COM.
2. Gire el selector rotativo para la posición de capacitancia (azul).
3. Apriete el botón azul para seleccionar la función de capacitancia. El visor indica el símbolo nF.
4. Conecte las puntas de teste sobre el objeto a ser medido. El valor medido aparece en el visor.
Nota
• Cuando OL aparecer en el visor, el capacitor está en curto circuito o el limite seleccionado está
muy bajo.
• Para minimizar el error de medición causado por el capacitor distribuido, la punta de teste debe
ser la más curta posible. Esto requiere un mayor tiempo de medición cuando testar un valor de
capacitancia alto, el tiempo de teste es de aproximadamente 15 segundos en el límite 100 µF.
• Use la función REL para reducir la capacitancia almacenada en las puntas de teste cuando
medir un valor pequeño de capacitancia.
Frecuencia (Mire fig. 1)
1. Insiera la punta de teste roja en el borne HzV y la punta de teste negra en el borne COM.
2. Gire el selector rotativo para la posición Hz%.
3. Apriete el botón Hz% para seleccionar la medición de frecuencia en Hz o ciclo de carga en %.
El visor indica Hz o %.
3. Conecte las puntas de teste sobre el objeto a ser medido. El valor medido aparece en el visor.
Nota. Cuando medir V, µA, mA o A, también la frecuencia o ciclo de carga puede ser visto en el
visor apretando el botón Hz%. Apriete el botón para seleccionar entre la frecuencia, ciclo de carga
o volver para el modo de medición anterior.
Valor relativo
El modo relativo si aplica la todas las funciones, excepto frecuencia/ciclo de carga. En esto modo
es substraído un valor almacenado del valor actual. Por ejemplo, si el valor almacenado es de 20
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