Prüfung Des Unverzögerten Kurzschlussauslösers (I); Prüfung Des Ansprechstromes; Unterer Grenzwert; Oberer Grenzwert - Siemens Sentron 3WL Bedienungsanleitung

8 Prüfung des unverzögerten
Kurzschlussauslösers (I)
8.1 Prüfung des Ansprechstromes
Mit Taster MODE (1) Phase L1 anwählen.
8.1.1

Unterer Grenzwert

Prüfstrom gemäß I = 0.8 * I
p
I = Prüfstrom
p
= Ansprechwert der unverzögerten Kurzschlussauslösung (I)
I
i
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten und mit
Taster START/STOP (10) einleiten.
Bei dieser Prüfung darf der unverzögerte Kurzschlussauslöser (I)
nicht ansprechen.
Prüfvorgang mit dem Taster START/STOP (10) sofort nach einer
nicht erfolgten Auslösung abbrechen. Wenn der Prüfstrom zu lange
ansteht kann es zu einer langverzögerten Überstromauslösung (L)
oder kurzzeitverzögerten Kurzschlussauslösung (S) kommen.
8.1.2

Oberer Grenzwert

Prüfstrom gemäß I = 1.2 * I
p
= Prüfstrom
I
p
= Ansprechwert der unverzögerten Kurzschlussauslösung
I
i
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten und mit
Taster START/STOP (10) einleiten.
Bei dieser Prüfung muss der unverzögerte Kurzschlussauslöser (I)
ansprechen.
Nach der Prüfung in der Strombahn L1 ist die Prüfung in den Strom-
bahnen L2 und L3 zu wiederholen. Dazu mit dem Taster MODE (1)
die entsprechende Strombahn anwählen.
8.2 Prüfung der Auslösezeit
Prüfstrom gemäß I = 1.5 * I
p
= Prüfstrom
I
p
I = Ansprechwert der unverzögerten Kurzschlussauslösung (I)
i
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten und mit
Taster START/STOP (10) einleiten.
Die Auslösezeit muss bei Zeitmessmethode nach Punkt 5.1 (a)
zwischen 20 und 55 ms und bei Zeitmessmethode Punkt 5.1 (b)
zwischen 0 und 35 ms liegen.
einstellen.
i
einstellen.
i
einstellen.
i
8 Testing the Instantaneous Short-circuit
Release (I)
8.1 Testing the Tripping Current
Select phase L1 by means of the MODE pushbutton (1).
8.1.1 Lower limit value
Set test current according to I
I = test current
p
= response threshold of the short-time-delay short-circuit
I
i
release (I)
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9), and
start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The instantaneous short-circuit release (I) should not respond
during this test.
In the case of non-tripping, terminate testing immediately by
pressing the START/STOP pushbutton (10). A long-time-delay
overcurrent release (L) or a short-time-delay short-circuit release
may result if the test current is applied too long.
8.1.2 Upper limit value
Set test current according to I
= test current
I
p
= response threshold of the short-time-delay short-circuit release
I
i
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9), and
start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The instantaneous short-circuit release (I) must respond during this
test.
After testing in conducting path L1, repeat the test in conducting
paths L2 and L3. For this purpose, select the appropriate
conducting path by means of the MODE (1) pushbutton.
8.2 Testing the Tripping Time
Set test current according to I
= test current
I
p
I = response threshold of the short-time-delay short-circuit
i
release (I)
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9), and
start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
When using the time measuring method described in 5.1 (a), the
tripping time must be between 20 and 55 ms. When using the time
measuring method described in 5.1 (b), it must be between 0 and
35 ms.
= 0.8 * I .
p i
= 1.2 * I .
p i
= 1.5 * I .
p i
8 – 1