Prüfung Des Kurzzeitverzögerten Kurzschlussauslösers (S); Prüfung Des Ansprechstromes; Lower Limit Value; Unterer Grenzwert - Siemens Sentron 3WL Bedienungsanleitung

7 Prüfung des kurzzeitverzögerten
Kurzschlussauslösers (S)
ACHTUNG
Bei dieser Prüfung darf der Ansprechwert der unverzögerten
Kurzschlussauslösung (I) nicht niedriger als der der kurzzeit-
verzögerten Kurzschlussauslösung (S) eingestellt sein.
7.1 Prüfung des Ansprechstromes
Mit Taster MODE (1) Phase L1 anwählen.
7.1.1

Unterer Grenzwert

Prüfstrom gemäß I = 0.8 * I
p
= Prüfstrom
I
p
= Ansprechwert der kurzzeitverzögerten
I
sd
Kurzschlussauslösung (S)
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten.
Prüfvorgang mit Taster START/STOP (10) einleiten.
Bei dieser Prüfung darf der kurzzeitverzögerte Kurzschlussauslöser
(S) nicht ansprechen.
Prüfvorgang mit dem Taster START/STOP (10) abbrechen. Wenn
der Prüfstrom zu lange ansteht kann es zu einer langzeitverzöger-
ten Überstromauslösung (L) kommen.
7.1.2

Oberer Grenzwert

Prüfstrom gemäß I = 1.2 * I
p
I = Ansprechwert der kurzzeitverzögerten Kurzschlussauslösung
sd
Prüfvorgang mit Taster TEST ENABLED (9) vorbereiten.
Prüfvorgang mit Taster START/STOP (10) einleiten.
Bei dieser Prüfung muss der kurzzeitverzögerte Kurzschlussaus-
löser ansprechen.
Nach der Prüfung in der Strombahn L1 ist die Prüfung in den Strom-
bahnen L2 und L3 zu wiederholen. Dazu mit dem Taster MODE (1)
die entsprechende Strombahn anwählen.
einstellen.
sd
einstellen.
sd
7 Testing the Short-time-delay
Short-circuit Release (S)
NOTICE
For this test, the response threshold of the instantaneous
short-circuit release (I) may not be set lower than the
response threshold of the short-time-delay short-circuit
release (S).
7.1 Testing the Tripping Current
Select phase L1 by means of the MODE pushbutton (1).
7.1.1

Lower limit value

Set test current according to I
I = test current
p
= response threshold of the short-time-delay short-circuit
I
sd
release (S)
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9).
Start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The short-time-delay short-circuit release (S) should not respond
during this test.
Testing can be interrupted by pressing the START/STOP
pushbutton (10). A long-time-delay overcurrent release (L) may
result if the test current is applied too long.
7.1.2

Upper limit value

Set test current according to I
I = response threshold of the short-time-delay short-circuit
sd
release
Enable testing by pressing the TEST ENABLED pushbutton (9).
Start testing by pressing the START/STOP pushbutton (10).
The short-time-delay short-circuit release should respond during
this test.
After testing in conducting path L1, repeat the test in conducting
paths L2 and L3. For this purpose, select the appropriate
conducting path by means of the MODE (1) pushbutton.
= 0.8 * I .
p sd
= 1.2 * I .
p sd
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