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Potentiel machine
OGW–UGW
Cm =
σ
6
n-1
Capacité machine
Cmk =
Minimum_de_
Potentiel processus
−
OGW
UGW
=
Cp
σ ˆ
6
Capacité processus
Cpk =
Minimum_de_
Valeur estimée de l'écart standard
R
σ=
m
, d2 représentant une constante dépendant de l'étendue de l'échantillon (tableau)
d2
Valeur moyenne de toutes les étendues des échantillons aléatoires
R
+R
+...+R
1
2
n
Rm =
m
Etendue des échantillons individuels aléatoires
R
= x
– x
n
n min
n min
Tableau des constantes de formules
2
Stpgröße
d2
1.28
8
Stpgröße
d2
2.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336
14
Stpgröße
d2
3.407 3.472 3.532 3.588 3.640 3.689
20
Stpgröße
d2
3.735 3.778 3.819 3.858 3.895 3.931
OGW–Xm
Xm–UGW
_resp._
3
σ
n-1
OGW–Xm
Xm–UGW
_resp._
3σ
, "m" représentant le nombre d'échantillons aléatoires
, étant x
la valeur la plus élevée et / ou x
nmax
petite de l'échantillon aléatoire
3
4
1.693 2.059 2.326 2.534 2.704
9
10
15
16
21
22
3
σ
n-1
3σ
la valeur la plus
nmin
5
6
7
11
12
13
17
18
19
23
24
25
113
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