Leica DM LSP Bedienungsanleitung
Durchlicht-kontrastverfahren: bf, ph, df, pol
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Verwandte Anleitungen für Leica DM LSP
Inhaltszusammenfassung für Leica DM LSP
- Seite 2 Leica DM LS en français, allemand A special brief instruction manual for the et anglais qui est également fourni avec chaque DM LSP is also available in several languages. microscope polarisant Leica DM LSP. Le mode Information about the range of objectives is d’emploi du Leica DM LS contient des données...
- Seite 3 Leica DM LSP Instructions M I C R O S Y S T E M S...
- Seite 17 Leica DM LSP Bedienungsanleitung M I C R O S Y S T E M S...
- Seite 18 Inhalt Pol-Komponenten ..........5 Justierung .............. 7 Bedienung Objektive (Pol) ........8 Bedienung Durchlicht-Polarisation ....9 Auswertung Konoskopie........14 Fehlermöglichkeiten ..........15 Auflichtverfahren ..........15 EU-Konformitätserklärung ........16 Textsymbole und ihre Bedeutung: Achtung! Bei einer Fehlbedienung können Mikroskop bzw. Zubehörteile beschädigt werden.
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Seite 19: Pol-Komponenten
Komponenten HC L3TP 4/5/7 Trinokularer Pol-Tubus mit 3 Schaltstellungen (Intensitätsverhältnis bin: Das Mikroskopmodell DM LSP (Abb. 43) unter- vertikaler Ausgang 100 : 0 %/50 : 50 %/0 :100 %). scheidet sich in folgenden Punkten vom auf S. 5 – 51 beschriebenen Modell DM LS. Alle Für die Polarisationsmikroskopie sind auch nor-... - Seite 20 Bertrandlinse, aus- und einschaltbar (43.3) und Polarisator zentrierbar (43.3a), für Konoskopie Seite 9, Wahlweise kann der Polarisator (43.10), um 360° mit gekoppelter Lochblende zur konosko- drehbar und ausschwenkbar, mit darüber befind- pischen Ausblendung kleiner Objektbereiche. lichem Aufnahmeschlitz für λ- bzw. λ/4-Platte Quarzplatte.
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Seite 21: Justierung
Justierung Objektivzentrierung Methode II (Abb. 42) Bei der Objektivzentrierung werden die Objektive Markante Objektstelle (42a) in die Mitte des mit Hilfe zweier Sechskantschlüssel (1.3; 43.15) Strichkreuzes M verschieben. Objekttisch dre- so lange verschoben (43.14), bis die optische hen, bis die Objektstelle am weitesten von der Achse des Objektivs (und damit die Bildmitte) mit Strichkreuzmitte M entfernt ist (Position A, der Drehachse des Objekttisches übereinstimmt... -
Seite 22: Bedienung Objektive (Pol)
Bei Kondensor UCLP* Kondensorscheibe in Pos. BF = Hellfeld drehen. Bei Kondensor CLP/PH* (43.8) Lichtringschieber herausziehen. Analysator einschalten (43.4). Abb. 43 Bedienelemente Polarisationsmikroskop Leica DM LSP 1 Okulare, mit verstellbarer Augenlinse* und Blendschutz, ab- nehmbar, 2 Augenweitenverstellung, 3 Bertrandlinse aus/ein, 3a Zentrierung Bertrandlinse, 4 Analysator aus/ein (Zentrier- schlüsselaufnahmen), 5 Objektiv, Objektivrevolver, 6 Objekt-... -
Seite 23: Bedienung Durchlicht-Polarisation
Bedienung Durchlicht-Polarisation Besonders exakt kann die Einstellung bei Ver- wendung der eingebauten Bertrandlinse (43.3) oder des Einstellfernrohres (25.1) wie folgt vor- genommen werden: Objektiv stärkerer Vergrößerung benutzen, z. B. 40x, 50x, 63x. Aperturblende (43.7) öffnen (Pos. PH). Bei Einstellfernrohr: so fokussieren, daß der etwas aufgehellte Kreis im Zentrum des Sehfel- des scharf begrenzt ist. - Seite 24 λ/4- und λ-Platte Gekreuzte Polarisatoren λ/4- und λ-Platte werden je nach Ausführung in Nach DIN und ISO verlaufen die Schwingungs- richtungen entsprechend der Beschriftung auf den Kompensatorschlitz (43.20) oder über dem dem Stativ (Aufkleber). Polarisator (43.10; 28.2) oder in Lichtringschlitz (CLP/PH) eingesteckt oder in die Kondensor- Enthält das Präparat viele nichtdoppelbrechende scheibe (UCLP) (9.6) eingebaut.
- Seite 25 Quarzkeil Kompensatoren für quantitative Messungen Der Quarzkeil (46.6) wird in den Kompensator- Nur in Verbindung mit Polarisationsmikroskopen schlitz (43.20) eingesteckt. Er erlaubt Phasen- im Durchlicht. Verstellbare Kompensatoren dienen verschiebungen von 0 bis ca. 4 λ (Ordnungen). zur exakten Messung von Gangunterschieden. Bei bekannter Objektdicke d und dem gemesse- Zirkularpolarisation nen Gangunterschied Gamma (Γ) kann die...
- Seite 26 Bei der Messung wird der Kompensator in den Kippkompensator K Kompensatorschlitz eingeführt und so lange ver- mit Meßbereich bis 30 Ordnungen (wie 46.7) stellt, bis sich die zu messende Objektstelle in Zur Messung von Gangunterschieden in weißem maximaler Dunkelstellung befindet. Das Objekt oder monochromatischem Licht bis zum angege- muß...
- Seite 27 Konoskopie von Kristallstrukturen Einstellen Konoskopie Doppelbrechende Kristalle zeigen in der Aus- Für die Konoskopie sind am geeignetsten die trittspupille des Objektivs (d. h. innerhalb des Objektstellen, die möglichst niedrige Gangunter- Objektivs) Interferenzbilder (Abb. 47), die auch schiede aufweisen (Tabelle Abb. 45). Voraus- Achsenbilder oder Konoskopbilder genannt wer- setzung für einwandfreie konoskopische Be- den.
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Seite 28: Auswertung Konoskopie
Auswertung Konoskopie Bestimmung des optischen Charakters Zweiachsige Kristalle (Abb. 47) Für die Bestimmung des optischen Charakters Einachsige Kristalle (Abb. 47) sind besonders die Schnittlagen geeignet, bei welchen die Winkelhalbierende der beiden opti- Einachsige Kristalle zeigen bei der Beobachtung schen Achsen parallel zur Blickrichtung verläuft im konoskopischen (divergenten) Strahlengang (Schnitt senkrecht zur spitzen Bisektrix). -
Seite 29: Fehlermöglichkeiten
Fehlermöglichkeiten Zweiachsige positive Kristalle: Die Verschiebung der Interferenzstreifen verläuft beim Zuschalten eines Kompensators von der Polarisatoren durch starke Lichtquellen konvexen zur konkaven Seite der Isogyren. geschädigt (verfärbt) oder stark verschmutzt. Objektive oder Kondensor durch mechanische Zweiachsige negative Kristalle: Beschädigung verspannt. Die Bewegungsrichtung der Interferenzstreifen Strahlenteiler oder Filter zwischen den Polari- verläuft von der konkaven zur konvexen Seite. -
Seite 30: Eu-Konformitätserklärung
Hiermit erklären wir, daß nachfolgend bezeichnetes Gerät aufgrund seiner Konzipierung und Bauart sowie in der von uns in Verkehr gebrachten Ausführung den einschlägigen grundlegenden Sicherheits- und Gesundheitsanforderungen der EU-Richtlinien entspricht. Bei einer nicht mit uns abgestimmten Änderung des Gerätes verliert diese Erklärung ihre Gültigkeit. Bezeichnung: DM LSP Gerätetyp: Mikroskop Gerätenummer: 551030... - Seite 31 Leica DM LSP Mode d’emploi M I C R O S Y S T E M S...
- Seite 46 Tel. +49 (0) 64 41-29 0 Leica Microsystems Wetzlar GmbH Ernst-Leitz-Straße Fax +49 (0) 64 41-29 25 99 www.leica-microsystems.com D-35578 Wetzlar (Germany) M I C R O S Y S T E M S...