ABB REL650 Technisches Handbuch Seite 526

Abschnitt 15
IED-Grundfunktionen
Tabelle 427: TESTMODE "Non Group" Einstellungen (basis)
Name
TestMode
EventDisable
CmdTestBit
15.4.6
520
Anzeigenbereich Einheit
Aus -
Ein
Aus -
Ein
Aus -
Ein
Funktionsprinzip
Zum Testen der Funktionen im IED muss das Gerät in den TEST-Modus versetzt
werden. Es gibt zwei Möglichkeiten, um das IED in den Testmodus zu versetzen:
• Durch Konfiguration: Aktivierung des Eingangssignals des Funktionsblocks
TESTMODE.
• Durch Einstellung von TestMode auf Ein auf der lokalen HMI im Menü: Tests/
IED-Testmodus/1:TESTMODE.
Während sich das IED im Testmodus befindet, ist der ACTIVE-Ausgang des
Funktionsblocks TESTMODE aktiviert. Die anderen Ausgänge des
Funktionsblocks TESTMODE zeigen den Generator des Status "Testmodus:
Ein" – Eingang von der Konfiguration (OUTPUT-Ausgangs ist aktiviert) oder
Einstellung von der lokalen HMI (SETTING-Ausgang ist aktiviert).
Während sich das IED im Testmodus befindet, blinkt die gelbe START -LED und
alle Funktionen werden blockiert. Jede Funktion kann in Bezug auf Funktionalität
und Ereignissignalisierung einzeln entblockt werden.
Das Erzwingen von binären Ausgangssignalen ist nur möglich, wenn sich das IED
im Testmodus befindet.
Die meisten Funktionen im IED können individuell durch Einstellungen aus der
lokalen HMI blockiert werden. Zur Aktivierung dieser Blockierungen muss das
IED in den Testmodus gestellt werden (der Ausgang ACTIVE ist aktiviert). Beim
Verlassen des Testmodus, d. h. beim Eintritt in den normalen Modus, werden diese
Blockierungen abgeschaltet und alles wird auf den Normalbetrieb gestellt. Der
Testvorgang geschieht mit real eingestellten Werten innerhalb des IED. Keine
Einstellung wird verändert, sodass keine Fehler möglich sind.
Die blockierten Funktionen werden beim nächsten Testbeginn wieder blockiert,
wenn die Blockierungen nicht zurückgestellt wurden.
Die Blockierung einer Funktion betrifft alle Ausgangssignale aus der Funktion,
sodass keine Ausgänge aktiviert werden.
Wenn ein binäres Eingangssignal verwendet wird, um das IED in
den Testmodus zu versetzen, und ein Parameter, der einen Neustart
der Anwendung erfordert, geändert wird, wechselt das IED wieder
Stufe Standard
- Aus
- Aus
- Aus
1MRK506304-UDE -
Beschreibung
Testmodus ist betriebsbereit (EIN) oder
nicht (OFF)
Ereignis blockiert während Testmodus
Befehlbit verlangt im Testmodus Ja/Nein
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REL650