ABB REL650 Technisches Handbuch Seite 524

Abschnitt 15
IED-Grundfunktionen
15.4
15.4.1
15.4.2
518
IEC09000063 V1 DE
Abb. 239: Anschluss der Funktion an externe Schaltkreise
Das Beispiel oben umfasst ebenfalls fünf Ausgangssignale, um zu bestätigen,
welcher Satz aktiv ist.
Testmodusfunktionalität (TESTMODE)
Kennung
Funktionsbeschreibung
Prüfmodus-Funktionalität
Funktionalität
Wenn die TESTMODE-Funktion aktiviert ist, werden die Schutzfunktionen im
IED automatisch blockiert. Dadurch können sie über die lokale HMI oder das PST
einzeln für bestimmte Tests wieder freigegeben werden.
Wenn ein binäres Eingangssignal verwendet wird, um das IED in
den Testmodus zu versetzen, und ein Parameter, der einen Neustart
der Anwendung erfordert, geändert wird, wechselt das IED wieder
in den Testmodus und alle Funktionen werden blockiert (auch
solche, die vor der Änderung freigegeben waren). Beim erneuten
Wechsel in den Testmodus sind die Funktionen vorübergehend
freigegeben, was zu unerwünschten Auslösungen führen kann. Dies
trifft allerdings nur dann zu, wenn das IED durch ein binäres
AKTIVIERE SATZ 4
AKTIVIERE SATZ 3
AKTIVIERE SATZ 2
AKTIVIERE SATZ 1
IOx-Bly1
Æ
IOx-Bly2
Æ
IOx-Bly3
Æ
IOx-Bly4
Æ
IEC-61850-Identi‐ IEC-60617-Identi‐
fikation fikation
TESTMODE
1MRK506304-UDE -
ACTVGRP
ACTGRP1 GRP1
ACTGRP2 GRP2
ACTGRP3 GRP3
GRP4
ACTGRP4
SETCHGD
ANSI/IEEE-C37.2-
Nummer
- -
REL650
Technisches Handbuch