spectro2profiler
8 テクニカルデータ
測色
ジオメトリ
測定口径
スペクトラルレンジ
繰り返し性
精度
カラーシステム
色差
インデックス
光源
視野角度
光沢測定
測定口径
測定レンジ
2D 反射率測定
測定口径
測定レンジ
スペクトラル解像度
繰り返し性
(1)
精度
72
45°c:0°
直径 25 mm
400 - 700 nm, 分解能10 nm
0.01 ∆E94 (白色タイルにて10 回測定)
0.1 ∆E94 (BCRAタイル12枚平均)
CIELab/Ch, Lab(h), XYZ, Yxy
∆E*, ∆E(h), ∆E94, ∆ECMC, ∆E99, ∆E2000, ∆E2000PF, ∆E6175
YI
, YI
, WI
E313
D1925
隠ぺい率、メタメリズム、グレイスケール
A, C, D50, D55, D65, D75, F2, F6, F7, F8, F10, F11, UL30
2°, 10°
25 × 15 mm
0 - 20 GU
20 - 100 GU
15 × 15 mm
0 - 500 000,
技術パフォーマンス保証範囲 0 - 2500
60 µm
(1)
0.5 % (ストラクチャー基準スタンダード 10回測定)
1.0 % (ストラクチャー基準スタンダードにて)
, WI
, WI
,
E313
CIE
Berger
繰り返し性
± 0.1 GU
± 0.2 GU
BYK-Gardner GmbH
精度
± 0.2 GU
± 1.0 GU
283 025 449 - 2305