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Texas Instruments TI-PMLK Bedienungsanleitung Seite 8

Power-management-laborkit buck-experimentierbuch

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Vorwort (Fortsetzung)
Die Experimente decken eine Vielzahl von stationären, transienten und dynamischen
Prüfungen ab. Die meisten Prüfungen basieren auf zeitbezogenen Messungen. Bei
manchen Prüfungen liegt jedoch der Schwerpunkt auf der Untersuchung von dyna-
mischen Eigenschaften, die durch Frequenzgangfunktionen wie dem Versorgungs-
spannungsdurchgriff beschrieben werden. So erlebt der Benutzer die Probleme bei
Stromversorgungslösungen und erlangt ein besseres Verständnis. Für die meisten
Experimente wird lediglich eine grundlegende Laborausstattung benötigt, z.  B. ein
Netzgerät, einige Multimeter, ein Oszilloskop und eine Last. Manche Prüfungen erfor-
dern allerdings ausgefeiltere Messeinrichtungen, wie beispielsweise eine dynamische
Quelle, eine dynamische Last und einen Vektor-Netzwerkanalysator, damit genaue
Messungen vorgenommen werden können.
Die Platinen wurden speziell dafür entwickelt, dass der Einfluss der physikalischen
Parameter und der Betriebsbedingungen eines Netzteils auf dessen Leistung un-
tersucht werden kann. Es können verschiedene Kombinationen von Leistungs- und
Steuerungskomponenten ausgewählt werden. Die meisten davon liefern Betriebs-
bedingungen, die den allgemein anerkannten technischen Standards entsprechen.
Einige können aber zu Betriebsbedingungen wie Instabilität führen, die in der Regel
in industriellen Anwendungen nicht erwünscht sind. Dadurch erlangt der Leser ein
fundiertes Verständnis realer Phänomene dieser Art.
Für jedes Experiment werden Kombinationen von Leistungs- und Steuerungskom-
ponenten vorgeschlagen. Bei einigen Experimenten wird der Benutzer aufgefordert,
Kombinationen zu ermitteln, die zu einem bestimmten Betriebszustand oder -ver-
halten führen. Der Benutzer kann mithilfe der Jumper und Anschlüsse eine Vielzahl
von Zuständen erzeugen. Das Buch enthält Empfehlungen und Warnhinweise zur
Sicherstellung des sicheren Platinenbetriebs und zur Durchführung effektiver Mes-
sungen. Außerdem wird nachdrücklich empfohlen, die Herstellerdatenblätter aller auf
den Platinen montierten Bauteile zu lesen, insbesondere die der Steuerchips, um die
Kenntnisse hinsichtlich der verschiedenen Bausteine zu vertiefen.
Eine gute Kenntnis der auf den Platinen implementierten Stromversorgungslösungen,
unterstützt durch heuristische Beobachtungen sowie die in diesem Buch erläuterten
Modelle und Verfahren, hilft bei der Unterscheidung, was möglich ist und was nicht.
Die Detailgenauigkeit und die Vollständigkeit der im Abschnitt
grund
behandelten Modelle unterscheiden sich von Experiment zu Experiment. Man-
che Modelle enthalten bestimmte spezifische Eigenschaften, andere hingegen sind
vereinfacht oder stellen eine Näherung dar. Das Erreichen einer Vertrautheit mit den
Modellen ist ein elementarer Lernschritt: Ein versierter Netzteilentwickler muss in der
Lage sein, die Wichtigkeit der Modellierung bestimmter Eigenschaften sowohl auf
Baustein- als auch auf Systemebene einzuschätzen, um beurteilen zu können, ob
die Modelle wirklich sinnvolle und maßgebliche Informationen in Bezug auf die Anfor-
derungen der Anwendung liefern. Die wesentlichen Formeln und Ausdrücke für die
grundlegende Analyse des zu untersuchenden Phänomens werden meistens ohne
schrittweise theoretische Ableitungen vorgestellt, da dies den Rahmen dieses Bu-
ches sprengen würde.
Theoretischer Hinter-

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