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E i n l e i t u n g
Die Betriebsanleitung enthält Angaben und Erläuterungen, die für einen einwand-
freien Betrieb der Anlage erforderlich sind. Die Anleitung ist in zwei Hauptabschnitte
gegliedert, Beschreibung und Bedienung. Beschreibungen stehen im allgemeinen
auf den linken Seiten und die dazugehörigen Bedienungshinweise (kursiv) auf den
rechten Seiten der Anleitung.
Die Ausklappseiten mit den Bildern A (Seite
8) und B (Seite 67) sollten vor dem
Arbeiten mit der Anleitung ausgeklappt werden, da in den meisten Abschnitten auf
sie Bezug genommen wird.
Diese Anleitung gilt für ELMISKOP 102 ab Fabr.-Nr. 2701.
Das ELMISKOP 102 wird in zwei Ausführungen geliefert, die sich in der Objektiv-
brennweite f, und dadurch in einer Reihe von technischen Daten unterscheiden.
Grundsätzlich gelten alle Angaben für f ,
=
2,7 mm. Werte für f ,
=
2,15 mm sind in
Klammern dahinter gesetzt, soweit keine gesonderten Angaben erforderlich sind.
L i t e r a t u r z u r Elektronenmikroskopie
1. R . D. Heidenreich
2. J. Picht, J. Heydenreich
3. L. Reimer
4. P. B. Hirsch u.a.
Fundamentals of Transmission
Electron Microscopy
lnterscience Publishers New York,
London, Sidney 1964
Einführung in die Elektronenmikroskopie
VEB Verlag Technik, Berlin 1966
Elektronenoptische Untersuchungs- und
Präparationsverfahren
Springer-Verlag, Berlin- Heidelberg-
New York 1967
Electron Microscopy of Thin Crystals
Butterworth, London 1965
5. K. R. Porter, M.A. Bonneville
Einführung in die Feinstruktur von Zellen
und Geweben
Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-
New York 1965
6. G. Schimmel, W. Vogell
Methodensammlung der Elektronen-
mikroskopie
Wissenschaftliche Verlagsgesellschaft,
Stuttgart
7. A. B. EI-Kareh, J. C. J. EI-Kareh
Electron Beams, Lenses and Optics
Academic Press,
New York and London 1970
8. E. Hornbogen
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
fester Stoffe
Verlag Chemie 1971
1. A u f b a u d e s M i k r o s k o p s
Das Elektronenmikroskop ELMISKOP 102 (Bild 1 ) ist ein Hochleistungsgerät mit
den Beschleunigungsspannungen 20, 40, 60, 80, 100 und 125 kV. Seine theo-
retische Grenzauflösung ist b e s s e r als 0,3 nm, in der Praxis können 0,3 nm erreicht
werden. Diese gute Auflösung wird durch die Justierbarkeit aller Linsen, die hohe
elektrische Konstanz und die gute mechanische Stabilität erreicht. Wegen der
einfachen Bedienung des Gerätes können auch routinemäßige Mikroskopierarbei-
ten schnell erledigt werden.
Das ELMISKOP 102 besitzt sechs elektromagnetische Linsen, d. h. zwei Bestrah-
lungs- und vier Abbildungslinsen, deren Erregungen und damit auch Brennweiten
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