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DE-01728 Bannewitz
LANGER
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EMV -Technik
www.langer-emv.de
5 Beschreibung Entwicklungssystem Störfestigkeit E1
set
Das Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set ist ein ausgereiftes Werkzeug für den
Elektronikentwickler für experimentelle Puls-Störfestigkeitsuntersuchungen (Burst/ESD) von
Baugruppen. Es ermöglicht die kleinräumige Störfestigkeitsanalyse auf einer Baugruppe.
Entscheidend für das Lokalisieren von Schwachstellen ist die selektive Einspeisung von Störstrom
in einzelne Abschnitte (Störstromwege) und das Beaufschlagen ausgewählter Gebiete der
Baugruppenoberfläche mit elektrischem (E-Feld) oder magnetischen (H-Feld) Pulsfeldern.
Gleichzeitig kann während der Beaufschlagung mit Pulsstörungen eine rückwirkungsfreie LWL-
Signalüberwachung durchgeführt werden.
Das Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnittenen.
Mit dem E1 set kann der Entwickler an seinem Arbeitsplatz Geräte/Baugruppen entstören oder
weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und
Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann.
Mit dem Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set sind keine Nachweisprüfungen nach Norm
möglich. Die Störfestigkeitsuntersuchung einer Baugruppe nach der Norm IEC 61000-4-4 und IEC
61000-4-2 ist jedoch ein vorteilhafter Ausgangspunkt für die Störfestigkeitsuntersuchungen mit
dem E1 set. Die vom Standard-Burstgenerator nach Norm erzeugten Störgrößen werden auf die
Zuleitungen eingekoppelt und fließen über Masse zum Generator zurück. Dabei fließen die
pulsförmigen Störgrößen auf unbekannten Wegen durch die Gerätebaugruppe. Im Gerät trifft ein
unbekannter Anteil dieser Störgrößen auf eine unbekannte Störsenke und generiert einen
Funktionsfehler. Diese Schwachstelle, die sich meist auf wenige Quadratzentimeter einer
Baugruppe begrenzen lässt, kann mit dem Test nach Norm nur schwer gefunden werden. Noch
weiß der Entwickler nicht, ob und wo der Störstrom mit seinem Magnetfeld in einer
Leiterzugschleife einen Spannungsimpuls induziert oder elektrisches Feld kapazitiv in empfindliche
Leitungen einkoppelt.
Das entscheidende Ergebnis beim nicht bestandenen Test nach Norm ist die genaue Kenntnis des
aufgetretenen Fehlerbildes. Aus dem Fehlerbild lässt sich allerdings nicht ablesen, wo genau die
Schwachstelle im Prüfling ist. Es empfiehlt sich daher, zunächst mit einem Test nach Norm die
Störfestigkeit des Prüflings zur Feststellung des Fehlerbildes zu bestimmen. Anschließend erfolgt
die Ursachenforschung mit dem E1 set am Arbeitsplatz des Entwicklers, wobei die Funktionsfehler
aus dem Fehlerbild die Orientierung für die Entstörung vorgeben.
Die im Entstörungsprozess durchgeführten Modifikationen können mit dem Entwicklungssystem
Störfestigkeit auf ihre Wirksamkeit geprüft werden.
Mit Hilfe des E1 sets erreicht der Entwickler eine deutliche Reduzierung der Entwicklungszeit und
des Entwicklungsaufwandes.
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E1 set
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