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DE-01728 Bannewitz
LANGER
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EMV -Technik
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9.2 Lokalisierung der Fehlerorte mit Feldquellen
Störstrom und Störspannung sind nicht die direkten Ursachen der Beeinflussung, sondern die aus
ihnen entstehenden elektrischen oder magnetischen Felder. Bei Burst-Beeinflussung sind meist
die magnetischen Felder die Fehlerverursacher. Bei ESD-Einkopplungen sind die elektrischen
Felder überwiegend die Fehlerverursacher.
Die Auswahl der Feldquellenart wird durch die Ergebnisse der Messungen aus „Kapitel 9.1
Analyse der Störstrompfade" bestimmt. Durch die Einkoppelart, einpolig oder zweipolig, gibt es
bereits Anhaltspunkte zur Differenzierung zwischen elektrischem oder magnetischem Feld.
Feldquellen erzeugen je nach ihrer Art kleinräumiges magnetisches oder elektrisches Feld. Diese
Felder werden zur genaueren Lokalisierung des Ortes der Beeinflussung systematisch in die
Baugruppe eingekoppelt.
Tritt der Funktionsfehler bei zweipoliger Einspeisung in den Prüfling auf, handelt es sich um
Störungen, die von Magnetfeld ausgelöst werden. In diesem Fall arbeitet man mit
Magnetfeldquellen weiter.
Tritt der Funktionsfehler bei einpoliger Einspeisung in den Prüfling auf, handelt es sich um
Störungen, die von elektrischem Feld ausgelöst werden. In diesem Fall arbeitet man mit E-
Feldquellen weiter.
Dieser Zusammenhang sollte als Anhaltspunkt genutzt werden. Praktisch können jedoch auch
Kombinationen aus beiden Mechanismen auftreten. Wenn das so ist, werden nacheinander beide
Arten Feldquellen angewendet.
9.2.1 Wirkmechanismus für Magnetfeldeinkopplung
Störmagnetfelder koppeln in IC-externe Leitungsnetze. Die IC-externen Netzwerke bilden mit den
IC-Pins die Schleifen, in denen Spannung induziert wird. Die Einwirkung auf den IC erfolgt
leitungsgeführt über die IC-Pins.
u
= -dφ/dt
ind
Im einfachsten und häufigsten Fall schließen sich die Schleifen IC-extern über Kondensatoren
(Bild 32).
Bild 32: Prinzip der magnetischen Einkopplung in Leiterschleifen
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E1 set
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