Werbung
DE-01728 Bannewitz
LANGER
mail@langer-emv.de
EMV -Technik
www.langer-emv.de
Prüfaufbau für Fall 2:
Bild 31: Einkopplung mit Feldquelle ES 00
Mit der am SGZ 21 angeschlossenen E-Feldquelle (ES 00 bis ES 02) wird das E-Feld erzeugende
benachbarte metallische System nachgebildet (Bild 31). Mit der Größe der ausgewählten E-
Feldquelle kann man sich an die Größe des realen metallischen Teils anpassen.
Die Feldquelle wird an den zweiten Generatorpol angeschlossen.
Treten bei diesen Versuchen Funktionsfehler auf, sind zwei verschiedene Koppelmechanismen
denkbar:
1.) Das elektrische Feld zwischen Prüfling und Sonde erzeugt den Fehler direkt oder
2.) Der im elektrischen Feld fließende Verschiebestrom fließt durch die Baugruppe und erzeugt
dort Magnetfelder, die ihrerseits wiederum in Signalleiterschleifen einkoppeln und einen
Funktionsfehler erzeugen.
Um zwischen den beiden Koppelmechanismen zu unterscheiden, kann man folgendermaßen
vorgehen:
Zwischen Masse des Prüflings und den benachbarten Metallteilen wird eine kurze und
niederohmige Verbindung hergestellt. Dadurch wird die Spannungsdifferenz zwischen beiden
Teilen kurz geschlossen und das elektrische Feld ist nicht mehr vorhanden. Tritt der bekannte
Funktionsfehler nicht mehr auf, wurde er durch das elektrische Feld verursacht. Tritt er nach wie
vor auf bzw. ist er noch ausgeprägter, wird er durch eine magnetische Beeinflussung durch den
Verschiebestrom auf der Baugruppe hervorgerufen. Möglicherweise treten dabei noch andere
Funktionsfehler auf.
Achtung:
Handannäherung
Gegenstände
Umgebung des Messaufbaus haben
Einfluss auf das Messergebnis!
- 32 / 53 -
E1 set
bzw.
metallische
in
unmittelbarer
Werbung
