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Langer E1 set Bedienungsanleitung Seite 45

Entwicklungssystem störfestigkeit

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DE-01728 Bannewitz
LANGER
mail@langer-emv.de
EMV -Technik
www.langer-emv.de
Die Intensität des Feldes einer E-Feldquelle ist am Regler „Intensität" (Bild 2) am SGZ 21
verstellbar. Mit sehr hoch eingestellter Intensität überflutet das E-Feld der Feldquelle einen
größeren Bereich der Baugruppe, als wenn der Regler „Intensität" kleiner gestellt ist. Um kleine
empfindliche Störschwellen genau einzugrenzen, ist mit dem Regler „Intensität" der Messvorgang
anzupassen. So können auch sehr kleine empfindliche Stellen genau lokalisiert werden. Sollte
dieses Verfahren nicht ausreichen, kann zur weiteren Abschwächung der Störwirkung am
Kippschalter IMPULSFORM (Bild 2) auf breiten Impuls umgeschaltet werden. Ggf. ist danach die
Intensität wieder etwas zu erhöhen.
9.3 Überwachung von Logiksignalen des Prüflings
Üblicherweise erhält man während einer Prüfung Informationen über die Funktionsfehler aus der
Baugruppe. Es kann sein, dass die Funktionsfehler zur Beurteilung der inneren Störabläufe nicht
ausreichend sind. Um weitere Informationen aus der Baugruppe zu erhalten, müssen
charakteristische logische Signale der Baugruppe überwacht werden. Das können Reset, Chip
Select, Watch Dog oder andere beliebige Lebenszeichen sein. Mit dem E1 set besteht die
Möglichkeit, über einen optischen Tastkopf, dem Sensor S21 (Kapitel 6.3 Sensor), und über
Lichtwellenleiter, Signalzustände am SGZ 21 an den LEDs Spike und Signal anzuzeigen und in
einem Zähler zu zählen (Bild 2).
Weiterhin kann auch das Impulsdichteverfahren (Kapitel 7) zur Überwachung von Störschwellen
im Prüfling angewendet werden.
Prüfaufbau:
Bild 42: Prüfaufbau zur Überwachung von logischen Signalen des Prüflings.
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E1 set

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