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Bedienungsanleitung
E1 set
Entwicklungssystem Störfestigkeit
Copyright
(C)
Dipl.- Ing. Gunter Langer
Nöthnitzer Hang 31
01728 Bannewitz
10.04.2014
Störfestigkeit des Prüflings erreichen –
durch entwicklungsbegleitendes Messen und Modifizieren
2022.08.02 Benutzerhandbuch E1 set.doc
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Verwandte Anleitungen für Langer E1 set
Inhaltszusammenfassung für Langer E1 set
- Seite 1 Bedienungsanleitung E1 set Entwicklungssystem Störfestigkeit Copyright Dipl.- Ing. Gunter Langer Nöthnitzer Hang 31 01728 Bannewitz 10.04.2014 Störfestigkeit des Prüflings erreichen – durch entwicklungsbegleitendes Messen und Modifizieren 2022.08.02 Benutzerhandbuch E1 set.doc...
- Seite 2 Optischer Sensor S21 ......................7 Burstgenerator SGZ 21 ......................7 Beschreibung Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set ........8 Beschreibung der Komponenten des E1 set ............9 Impulsdichtezähler / Burst-Generator SGZ 21 ..............10 6.1.1 Der SGZ 21 als Störgenerator ................... 10 6.1.2...
- Seite 3 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Überwachung von Logiksignalen des Prüflings ..............45 9.3.1 Anwendung des Impulsdichteverfahrens zur Bewertung von Störschwellen ...... 46 9.3.2 Überwachung von logischen Signalen des Prüflings ............47 Messung der Burst-Magnetfelder ..................48 10 Sicherheitshinweise ....................
- Seite 4 1 Konformitätserklärung Hersteller: Langer EMV-Technik GmbH Nöthnitzer Hang 31 01728 Bannewitz Germany Die Langer EMV-Technik GmbH erklärt hiermit, dass das Produkt E1 set, Entwicklungssystem Störfestigkeit den folgenden einschlägigen Bestimmungen entspricht: - Niederspannungsrichtlinie 2014/35/EU - EMV-Richtlinie 2014/30/EU - RoHS 2011/65/EU Zur Umsetzung der Anforderungen aus den oben genannten Richtlinien wurden folgende zutreffende Normen verwendet: Für die Prüfung zum CE-...
- Seite 5 Feldern zu arbeiten. - das Produkt nicht bestimmungsgemäß verwendet wurde. - das Produkt wurde eigenmächtig modifiziert oder technisch verändert. - Ersatzteile oder Zubehör benutzt wurde, welches nicht von der Langer EMV-Technik GmbH genehmigt wurde. 2.5 Fehler und Auslassungen Die Informationen in der vorliegenden Bedienungsanleitung wurden sorgfältig überprüft und nach bestem Wissen wird angenommen, das diese korrekt sind;...
- Seite 6 ML ge 12 cm Messleitung schwarz ML sw 25 cm Adapterbuchse 3-polig Adapter Socket, 3-poles Rolle Kupferlackdraht Wire CuL Rolle Ø 0,2 mm ------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------ Bedienungsanleitung E1 m Koffereinleger E1 set E1 qg Systemkoffer E1 case - 6 / 53 -...
- Seite 7 10 ns Scheitelwerte ca. 0...1500 V Optischer Eingang max. Frequenz 5 MHz min. Impulsbreite 100 ns Lichtwellenleiter Ø 2,2 mm Steckernetzteil 12 V / 200 mA Tabelle 2: Technische Parameter SGZ 21 Systemkoffer E1 set - 7 / 53 -...
- Seite 8 Signalüberwachung durchgeführt werden. Das Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set ist auf die Entwicklungsbegleitung zugeschnittenen. Mit dem E1 set kann der Entwickler an seinem Arbeitsplatz Geräte/Baugruppen entstören oder weiter härten, indem er die direkten Ursachen von Störfestigkeitsproblemen aufklären und Gegenmaßnahmen in ihrer Wirkung direkt testen kann.
- Seite 9 EMV -Technik www.langer-emv.de 6 Beschreibung der Komponenten des E1 set Das Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set besteht aus einem Impulsdichte / Burst-Generator SGZ 21, einem optischen Sensor S21, einer Magnetfeldsonde mit LWL-Ausgang MS 02, Feldquellen für Magnet- und E-Feld und umfangreichem Zubehör.
- Seite 10 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 6.1 Impulsdichtezähler / Burst-Generator SGZ 21 Der SGZ 21 (Bild 2) ist zum einen ein Burstgenerator mit potenzialfreier Pulserzeugung, zum anderen ist der SGZ 21 auch ein Impulsdichtezähler und misst die Störimpulse des Prüflings.
- Seite 11 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Mit dem SGZ 21 kann partiell in Konstruktionsteile, Kabel, Schirmungen, Erdverbindungen und hauptsächlich direkt in die Baugruppen eingespeist werden. Der Störstrom des SGZ 21 wird durch einen Differenzausgang erzeugt. Damit ist der erzeugte Pulsstrom nicht auf das Potential des Generatorgehäuses bezogen.
- Seite 12 EMV -Technik www.langer-emv.de Über Krokoklemme oder Micro-Kleps (Bild 4) erfolgt die Verbindung mit dem Prüfling. Nach Bedarf können die im E1 set enthaltenen Feldquellen direkt an die Verlängerungskabel angesteckt werden. Bild 4: Krokoklemmen links und Mikro-Kleps rechts Bild 5: SGZ 21 mit angeschlossenen Generatorkabeln, einer Krokoklemme und einem Mikro-Kleps 6.1.4 Vorbereitung des SGZ 21 als Impulsdichtezähler und zur Signalüberwachung...
- Seite 13 Normprüfungen von den Burstströmen auf Baugruppen entstehen. Damit können kleine Bereiche des Prüflings bzw. einzelne Leiterzüge mit definierten Störgrößen beaufschlagt werden. Die im E1 set enthaltenen Feldquellen sind so optimiert, dass sie entweder magnetisches oder elektrisches Feld erzeugen. Weiterhin sind die Feldquellen unterschiedlich groß, um verschieden große Gebiete auf der Baugruppe beaufschlagen zu können.
- Seite 14 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Feldbild Anwendung Bauform BS 02 ist eine Feldquelle zur Lokalisierung von Schwachstellen im Layout. Die Magnetfeldquelle erzeugt ein B-Feldbündel von > 5 cm Durch- messer. Sie ist für Geräte- und Baugruppen- untersuchungen gleichermaßen geeignet.
- Seite 15 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 6.2.2 Feldquellen für elektrisches Feld Im Zubehör des E1 sets sind fünf Feldquellen enthalten, die elektrische Felder erzeugen. Die unterschiedliche Gestaltung der Sondenköpfe ermöglicht zwei unterschiedliche Messungen: a) Bestimmung der Empfindlichkeit eines IC-Pin /einer Leitung b) Lokalisierung von Schwachstellen im Layout Die einzelnen Feldquellen unterscheiden sich durch die Größe der Auskoppelelektrode im...
- Seite 16 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de ES 01 ist eine Feldquelle zur Lokalisierung von Schwachstellen im Layout. Mit der Feldquelle sind großflächige elektrische Einkopplungen möglich. Feldquelle eignet sich Beaufschlagen von flächen- oder linienförmigen Schwachstellen im Bereich von 5 bis 10 cm...
- Seite 17 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 6.2.3 Messaufbau mit SGZ 21 zur Einspeisung von Burst mit Feldquellen Die Feldquellen werden über die Generator- und Verlängerungskabel direkt an den „Ausgang Burst“ (Bild 2) des SGZ 21 angeschlossen. Feldquellen für magnetisches Feld werden grundsätzlich zweipolig (Bild 7) angeschlossen.
- Seite 18 Bild 8: Sensor S21. Impulsdehnung Der im E1 set enthaltene Sensor S21 kann schnelle transiente Störungen erfassen. Die Impulsbreiten der Störungen können im Nanosekundenbereich liegen. Derart kurze Störungen können aufgrund der niedrigen Grenzfrequenz des optischen Systems (5 MHz) nicht mehr übertragen werden.
- Seite 19 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 6.4 Magnetfeldsonden Die Magnetfeldsonde dient zum Messen von Burst-Magnetfeldern im Prüfling. Der Störstrom i des SGZ 21 erzeugt ein Magnetfeld B. Das Magnetfeld, das den Sondenkopf durchdringt, induziert in der Induktionsspule des Sondenkopfes eine Spannung. Die Spannung treibt eine optische Sendediode, die sich im Sondenschaft der MS 02 befindet (Bild 10).
- Seite 20 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 7 Das Impulsdichteverfahren Das Impulsdichteverfahren ist ein Messverfahren, mit dem die relative Störfestigkeit eines Prüflings ermittelt werden kann. Mit der relativen Störfestigkeit lassen sich EMV-Modifikationen in ihrer Wirkung bewerten. Weiterhin ist das Impulsdichteverfahren Basis für die Messung von Burst- Magnetfeldern mit den Magnetfeldsonden MS 02 und dem optionalen Magnetfeldmesssystem S2 (Kapitel 12.1).
- Seite 21 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 13: künstliche Magnetfeld-Störschwelle durch Einbringen des Sensors S21 mit Kupferlackdraht als Leiterzugnachbildung Im Bild 13 ist die Nachbildung eines Signalleiterzugs mit Kupferlackdraht dargestellt. Der Kupferlackdraht wird auf der einen Seite an Masse auf der anderen Seite an den Eingang des Sensors S21 angeschlossen.
- Seite 22 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 15: Natürliche Störschwelle durch Einbringen des Sensors S21 an einen Signalleiterzug des Prüflings Im Bild 15 wird für den gleichen Vorgang ein originaler Leiterzug des Prüflings verwendet. Wenn diese Signalleitung mit hochfrequenten Signalfolgen belegt ist, dann kann man das Impulsdichteverfahren nach Anordnung Bild 13 anwenden.
- Seite 23 8 Voraussetzungen zur Entstörung eines Prüflings Eine gute Voraussetzung für die Arbeit mit dem E1 set sind die beim Test nach Norm ermittelten Störfestigkeitswerte und Fehlerbilder, die bei Störung des Prüflings aufgetreten sind. Mit dem Entwicklungssystem Störfestigkeit E1 set lässt sich im Anschluss herausfinden, wo genau die zu Fehlerbildern gehörenden...
- Seite 24 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 9 Messstrategien zur Entstörung eines Prüflings Bei einer Burstprüfung fließen Störströme durch die Baugruppen des Prüflings (Bild 17). Der Hauptteil des Störstromes fließt dabei über das niederimpedante Versorgungssystem. Es gibt zwei Grundprinzipien der Störbeeinflussung: 1.
- Seite 25 Funktionsfehler auslösen. Es ist nicht zu erkennen, wo die Schwachstelle liegt (Bild 17). Mit dem E1 set können beliebige Störstromwege einzeln gespeist werden (Bild 19 Zweipoliges Einspeisen mit dem SGZ 21 in den Prüfling). Wenn die Schwachstelle durch die dabei auftretenden elektrischen oder magnetischen Felder getroffen wird, wird der Funktionsfehler auslöst.
- Seite 26 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 9.1.1 Grundprinzip magnetische Kopplung – zweipolige Einspeisung in den Prüfling Das Ziel ist im ersten Schritt, dass die Fehlerbilder vom Normtest reproduziert werden. Der erste Test findet somit am komplett aufgebauten Gerät statt. Der Prüfling wird an zugänglichen Stellen mit dem SGZ 21 kontaktiert und Störstrom hindurch geschickt.
- Seite 27 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Im Bild 19 ist zu erkennen, dass im komplett aufgebauten Gerät nicht alle rot markierten Einkoppelwege zugänglich sind. Das Gehäuse verhindert, dass der SGZ 21 an die Flachbaugruppen angeschlossen werden kann.
- Seite 28 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 22: Varianten für das zweipolige Einspeisen in ein zerlegtes Gerät, bestehend aus zwei Flachbaugruppen Damit sind die Flachbaugruppen des Prüflings umfassend zugänglich und können selektiv zweipolig eingespeist werden. Möglichkeiten zum Einspeisen: ...
- Seite 29 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 24: Einspeisen von Störstrom zweipolig über eine galvanische Trennstelle durch den Prüfling Bild 25: Einspeisen von Störstrom zweipolig galvanisch über Masse durch den Prüfling Bild 26: Einspeisen von Störstrom zweipolig über den Steckverbinder zweier Baugruppen.
- Seite 30 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 27: Einspeisen von Störstrom zweipolig über Steckverbinder zweier Baugruppen. Kontaktierung erfolgt jeweils Masse Baugruppen. Anschluss eines PCs USB-Verbindung an den Prüfling. Um eine Beeinflussung des PCs zu verhindern, werden die Leitungen, die den Prüfling verlassen, mit Ferriten abgeblockt.
- Seite 31 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 29: Einpolige Einspeisung des Störstroms mit dem Burst-Generator SGZ 21 erzeugt ein elektrisches Feld zum Gegenpol des Generators. Beispiel für Fall 1: Dieser Fall entsteht zum Beispiel, wenn unmittelbar neben der elektronischen Baugruppe im Prüfling metallische Konstruktionsteile, Schirme, Metallgehäuse o.ä.
- Seite 32 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Prüfaufbau für Fall 2: Achtung: Handannäherung bzw. metallische Gegenstände unmittelbarer Umgebung des Messaufbaus haben Einfluss auf das Messergebnis! Bild 31: Einkopplung mit Feldquelle ES 00 Mit der am SGZ 21 angeschlossenen E-Feldquelle (ES 00 bis ES 02) wird das E-Feld erzeugende benachbarte metallische System nachgebildet (Bild 31).
- Seite 33 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 9.2 Lokalisierung der Fehlerorte mit Feldquellen Störstrom und Störspannung sind nicht die direkten Ursachen der Beeinflussung, sondern die aus ihnen entstehenden elektrischen oder magnetischen Felder. Bei Burst-Beeinflussung sind meist die magnetischen Felder die Fehlerverursacher. Bei ESD-Einkopplungen sind die elektrischen Felder überwiegend die Fehlerverursacher.
- Seite 34 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Das Magnetfeld H(t) erzeugt die magnetische Flussdichte B(t) bzw. den magnetischen Fluss φ(t). Der Fluss φ(t) induziert in den Leiterschleifen Spannungsimpulse. Zur Spannungsinduktion führt das von der Leiterschleife umfasste Magnetfeld. Praxiswerte für die induzierten Spannungen liegen um die 10 Volt.
- Seite 35 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Die vom Leiterzug gebildete Koppelelektrode besitzt einen äußeren Kapazitätsbelag, der die Gesamtkapazität C bildet. Diese Kapazität nimmt aus dem elektrischen Feld einen Verschiebestrom i(t) auf, den sie in den Leiterzug einspeist.
- Seite 36 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Für kleinere Bereiche im mm – Bereich benötigt man kleine Magnetfeldquellen. Für IC-Pins verwendet man z. B. die Magnetfeldquelle BS 05DU (Bild 37). Bild 37: Zum Beaufschlagen kleiner Leiterschleifen eignet sich die Magnetfeldquelle BS 05DU.
- Seite 37 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Magnetfeldquelle BS 04DB Anwendung BS 04DB koppelt Magnetfeld Versorgungsleitung. Dabei Sonde unmittelbar links neben der Versorgungsleitung aufgesetzt. Magnetfeld kreist Leiterkarte um die Versorgungsleitung. BS 04DB koppelt Magnetfeld in Signalleitungen. Es wird untersucht, ob eine von den betroffenen Signalleitungen empfindlich ist.
- Seite 38 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Magnetfeldquelle BS 05DU Anwendung BS 05DU koppelt Magnetfeld um einen SMD- Kondensator. Im Kondensator wird Spannung induziert. Es wird geprüft, ob die induzierte Spannung Fehler verursacht. BS 05DU koppelt Magnetfeld selektiv in einen Leiterzug.
- Seite 39 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Magnetfeldquelle BS 02 Anwendung BS 02 koppelt Magnetfeld in große Bereiche einer Baugruppe. Es wird geprüft, ob das sternförmig verdrahtete Masse-System großräumige Schwachstellen besitzt. BS 02 koppelt Magnetfeld U-förmig angeordnetes Masse-System. Es wird geprüft, ob Leitungen, die außerhalb des Masse-Systems...
- Seite 40 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Magnetfeldquelle BS 02 Anwendung BS 02 koppelt Magnetfeld zwischen Schirmanschluss und Signalleitungen (pig tale) eines Steckverbinders. Es wird untersucht, ob der Signaleingang störempfindlich ist. Hinweise zur Auswahl der einzelnen Sonden sind im Abschnitt 6.2 enthalten.
- Seite 41 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Für kleinere Bereiche im mm – Bereich benötigt man kleine E-Feldquellen. Für IC-Pins verwendet man z. B. die Feldquelle ES 05D oder die Tastspitze ES 08D (Bild 40). Bild 40 Zum Beaufschlagen kleiner Leitungen, Bauteilen oder IC-Pins eignet sich die E-Feldquelle ES 05D und die Tastspitze ES 08D.
- Seite 42 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de E-Feldquellen ES 00 - 02 Anwendung ES 00 koppelt elektrisches Feld in Signalleitungen einer Flachbaugruppe. Es wird untersucht, ob Bauteile oder Signalleitungen empfindlich sind. genauere Selektierung einzelnen Leitungen oder Bauteile erfolgt anschließend mit der E-Feldquelle ES 05D oder der Tastspitze ES 08D.
- Seite 43 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de E-Feldquellen ES 02 Anwendung ES 02 koppelt elektrisches Feld in das Gehäuse eines ICs. Um Bereiche des Gehäuses eines ICs zu untersuchen, setzt man die E-Feldquelle mit der Spitze auf. Diese Methode kann man auch für andere Bauteile (SMD-Widerstände)
- Seite 44 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de E-Feldquellen ES 05D Anwendung ES 05D koppelt elektrisches Feld in einen SMD-Widerstand. wird geprüft, zugehörige Leitungsnetz und die zugehörigen IC- Eingänge empfindlich reagieren. Besondere Gefahr besteht, wenn es sich um Pull up oder Pull down Widerstände handelt.
- Seite 45 Um weitere Informationen aus der Baugruppe zu erhalten, müssen charakteristische logische Signale der Baugruppe überwacht werden. Das können Reset, Chip Select, Watch Dog oder andere beliebige Lebenszeichen sein. Mit dem E1 set besteht die Möglichkeit, über einen optischen Tastkopf, dem Sensor S21 (Kapitel 6.3 Sensor), und über Lichtwellenleiter, Signalzustände am SGZ 21 an den LEDs Spike und Signal anzuzeigen und in...
- Seite 46 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Im Bild 42 ist der Prüfaufbau zur Überwachung von logischen Signalen des Prüflings dargestellt. Die Generatorausgänge des SGZ 21 werden mit der Baugruppe verbunden. Es kann eine einpolige oder eine zweipolige Einkopplung aufgebaut werden. Der Sensor S21 wird an das zu überwachende...
- Seite 47 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 44: Dimensionierung von Filtern mit dem Impulsdichteverfahren Ein typischer Anwendungsfall ist die Dimensionierung von Filtern (Bild 44): Mit dem SGZ 21 wird Störstrom in einen Prüfling eingeleitet. Der Sensor S21 bildet mit einer Leitung des Prüflings die Gerätestörschwelle und übermittelt die Störschwellenüberschreitungen über LWL an den „Eingang...
- Seite 48 Oszilloskop übertragen. Im Oszilloskop kann man die Signale des Prüflings genau verfolgen. Die Wandlung der Lichtsignale in elektrische Signale wird von einem optischen Empfänger des Systems OSE umgesetzt (www.langer-emv.de). 9.4 Messung der Burst-Magnetfelder Um die Störmechanismen im Prüfling zu verstehen, ist es von Vorteil die Ausbreitung der Burst- Magnetfelder zu kennen.
- Seite 49 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de Bild 45: Messaufbau zur Magnetfeldmessung mit der Magnetfeldsonde MS 02 Der eingespeiste Störstrom verteilt sich entsprechend dem Metallsystems der Baugruppe. Das Masse-System hat im Allgemeinen den größten Anteil am Metallsystem. Das heißt der Störstrom wird über das Masse-System fließen.
- Seite 50 Lassen Sie ein Gerät der Langer EMV-Technik GmbH während der Funktion nicht unüberwacht. Das Gerät der Langer EMV-Technik GmbH darf nur für Anwendungen genutzt werden, für die es vorgesehen ist. Jede andere Nutzung ist nicht erlaubt. Die Bedienungs- und Sicherheitshinweise aller jeweils eingesetzten Geräte sind zu beachten.
- Seite 51 E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 11 Gewährleistung Langer EMV-Technik GmbH wird jeden Fehler aufgrund fehlerhaften Materials oder fehlerhafter Herstellung während der gesetzlichen Gewährleistungsfrist beheben, entweder durch Reparatur oder mit der Lieferung von Ersatzgeräten. Die Gewährleistung gilt nur unter folgenden Bedingungen: - den Hinweisen und Anweisungen der Bedienungsanleitung wurde Folge geleistet.
- Seite 52 DE-01728 Bannewitz LANGER mail@langer-emv.de E1 set EMV -Technik www.langer-emv.de 12 Optionale Komponenten 12.1 Magnetfeldsonden Set S2 Die Sonden des Sets S2 besitzen eine wesentlich höhere Auflösung als die MS 02. Weiterhin sind drei verschiedene auswechselbare Sondenköpfe enthalten, die verschiedene Aufgaben erfüllen können (Bild 48).
- Seite 53 Bild 49: Prüfaufbau mit zweikanaliger optischer Signalerfassung zum Oszillografieren des gestörten Prüflings. Es ist nicht erlaubt, ohne die schriftliche Zustimmung der Langer EMV-Technik GmbH, dieses Dokument oder Teile davon zu kopieren, zu vervielfältigen oder elektronisch zu verarbeiten. Die Geschäftsführung der Langer EMV-Technik GmbH übernimmt keine Verbindlichkeiten für Schäden, welche aus der Nutzung dieser gedruckten Informationen...