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Messung Einfach Markierter Proben; Messung Doppelt Markierter Proben; Doppelmarker-Kalibrierung - Perkin-Elmer AutoDELFIA Gerätehandbuch

Automatisches immunoassay-system
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Wellenlängen, die bei der Messung einen Hintergrund generieren, werden so wirksam eliminiert. Die Transmissions-
Peaks für die installierten Filter liegen bei 615 nm für Eu, 645 nm für Sm und 545 nm für Tb. Der Filter wird in einen
Filterwechsler gesetzt, der mit einem Schrittmotor betrieben wird. Direkt vor den Photomultiplier wird eine Blende
platziert, um zu verhindern, dass Streulicht in den Photomultiplier gelangt. So wird der Hintergrund weiter reduziert.
Es wird ein Photomultiplier mit seitlichem Eintrittsfenster und neun Dynoden verwendet. Die mechanische
Konstruktion bleibt so kompakt. Der Photomultiplier ist mit einer Bi-Alkali-Kathode (8 x 24 mm) für hohe Temperaturen
ausgestattet. Der Photomultiplier muss daher nicht gekühlt werden, da die Kathode einen geringen Dunkelstrom
aufweist und auch bei relativ hohen Temperaturen stabil funktioniert.
Die Ausgabepulse des Photomultipliers werden von einem Vorverstärker verstärkt und mittels einem elektronischen
Gatter in den Vorteiler eingespeist. Wenn die Messung für ein Well abgeschlossen ist, liest der Mikroprozessor den
Inhalt des Teilers und speichert alle Zahlen zur weiteren Verarbeitung.
Anmerkung: Die Messkoordinaten sind für EFLAB- und Nunc-Platten optimiert. Wenn Sie den Plattentyp nach der
Installation ändern, muss der zu verwendende Plattentyp angegeben werden.

Messung einfach markierter Proben

Wenn innerhalb des für den jeweiligen Marker angemessenen Zeitrahmens Zählwerte für einfache Marker
erhalten werden, werden die Ergebnisse nach einer Endkorrektur (bei der der Leerwert und Dunkelereignisse des
Photomultipliers subtrahiert werden) an die AutoDELFIA Workstation weitergeleitet (siehe Kurven für Europium und
Leerprobe in
Abbildung 19: Fluoreszenzabklingkurven

Messung doppelt markierter Proben

Bei doppelt markierten Proben erfolgt die Europium-Messung auf dieselbe Weise wie bei einfach markierten Proben.
Dies ist möglich, da es kaum Spillover von Samarium-Werten im Zeitfenster für Europium gibt (siehe
Eu im Eu-Fenster (Eee)
auf Seite 27,
Leerwert und Dunkelereignisse im Eu-Fenster
Beachten Sie, dass die Kurven in
sehr gering
auf Seite 27,
Sm im Sm-Fenster (Sss)
Leerwert und Dunkelereignisse im Sm- und Eu-Fenster
Europium-Werte sind deutlich höher als die Samarium-Werte und Leerwerte.
Bei Samarium ist die Situation komplizierter, da trotz des Samariumfilters ein erheblicher Anteil Europium im
Zeitfenster für Samarium vorliegt. Daher ist eine Doppelmarker-Kalibrierung erforderlich. Im folgenden Abschnitt wird
erläutert, wie diese Kalibrierung funktioniert.
Die voreingestellten Zeitfenster für die Messung doppelt markierter Proben von Eu und Sm sind:
Zeitfenster
Eu
Sm

Doppelmarker-Kalibrierung

Bei der Doppelmarker-Kalibrierung wird der Europium-Standard (E) in den Zeitfenstern für Europium (e) und Samarium
(s) unter Verwendung des Samarium-Filters gemessen, siehe
Abbildung 25: Eu im Sm- und Eu-Fenster
Eu-Fenster
auf Seite 29. Das Verhältnis der Werte im Samarium-Zeitfenster (E
(E
) wird berechnet, um den Eu‑Sm-Spillover-Korrekturfaktor, R, zu ermitteln, der nach der Doppelmarker-Kalibrierung
es
angezeigt wird.
R = E
/E
ss
es
Gleichzeitig wird im Europium-Zeitfenster unter Verwendung des Samarium-Filters der Leerwert (B
ebenfalls nach der Doppelmarker-Kalibrierung angezeigt.
In diesem Leerwert werden die Dunkelereignisse des Photomultipliers nicht berücksichtigt, da diese automatisch vor
jeder Plattenmessung gemessen werden.
®
AutoDELFIA
Beschreibung der Funktionen
Abbildung 22: Sm im Eu-Fenster sehr gering
auf Seite 28).
Abbildung 21: Eu im Eu-Fenster (Eee)
Abbildung 23: Leerwert und Dunkelereignisse im Eu-Fenster
auf Seite 28,
Abbildung 25: Eu im Sm- und Eu-Fenster
Verzögerungszeit μs
400
50
auf Seite 28 und
Gerätehandbuch
auf Seite 24).
auf Seite 27 und
auf Seite 27,
Abbildung 22: Sm im Eu-Fenster
auf Seite 28 und
auf Seite 29 nicht im selben Maßstab abgebildet sind. Die
Integrationszeit μs
400
100
Abbildung 24: Sm im Sm-Fenster (Sss)
Abbildung 26: Leerwert und Dunkelereignisse im Sm- und
), zu denen im Europium-Zeitfenster
ss
26
Abbildung 21:
Abbildung 23:
auf Seite 28,
Abbildung 24:
Abbildung 26:
auf Seite 28,
) gemessen und
es

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