FLIR b50 Startanleitung Seite 132

範例影像 範例影像
範例影像 範例影像
此影像顯示了一塊天窗由於安裝不當而
造成了很強的氣流。
濕氣和水損害 濕氣和水損害
濕氣和水損害 濕氣和水損害
濕氣和水損害的一般資訊 濕氣和水損害的一般資訊 濕氣和水損害的一般資訊 濕氣和水損害的一般資訊
使用紅外線熱像儀通常可以偵測房屋中
的濕氣和水損害。原因之一是受損害的
區域具有不同的導熱特性，而另一個原
因是這樣的區域與周圍的區域相比還具
有不同的儲熱熱容量。
注意事項 注意事項
注意事項 注意事項
在決定濕氣或水損害是如何出現在紅外
線影像上的原因時， 許多因素都有影響。
例如，根據材料和一天中的時間不同，
這些部分的受熱和冷卻過程在以不同速
率發生著。由於這個原因，在進行濕氣
和水損害的檢查時，同時採用其它的方
式是非常重要的。
範例影像 範例影像
範例影像 範例影像
此影像顯示了在外牆上的大面積水損害，
由於窗框的安裝不當，水已經穿透外表
面。
電器插座的接觸不良 電器插座的接觸不良
電器插座的接觸不良 電器插座的接觸不良
插座接觸不良的一般資訊 插座接觸不良的一般資訊
插座接觸不良的一般資訊 插座接觸不良的一般資訊
根據插座的連線類型不同，連線不當的
電線可能造成局部的溫度升高。這樣的
溫度升高是由於進線與插座之間的接觸
面積減小所致，並可能導致電氣火災。
注意事項 注意事項 注意事項 注意事項
插座的結構因製造廠商不同可能有很大
的差別。出於這個原因，不同的插座故
障可能導致紅外線影像上相同的典型表
現。
局部的溫度升高還可能是由於電線與插
座之間的不良接觸和負載的差異造成的。
範例影像 範例影像
範例影像 範例影像
此影像顯示的纜線與插座之間的連線狀
況，由於連線的接觸不良造成了局部的
zh-TW
溫度升高。
氧化的電器插座 氧化的電器插座
氧化的電器插座 氧化的電器插座
氧化插座的一般資訊 氧化插座的一般資訊
氧化插座的一般資訊 氧化插座的一般資訊
根據插座的類型不同以及插座的安裝環
境不同，氧化可能在插座的接觸表面上
形成。當插座處於加載狀態時，這些氧
化可能導致局部的電阻增加，體現在紅
外線影像上就是局部的溫度升高。
注意事項 注意事項
注意事項 注意事項
插座的結構因製造廠商不同可能有很大
的差別。出於這個原因，不同的插座故
障可能導致紅外線影像上相同的典型表
現。
局部的溫度升高還可能是由於電線與插
座之間的不良接觸和負載的差異造成的。
範例影像 範例影像
範例影像 範例影像
此影像中顯示了一系列的保險絲，其中
的一根在與保險絲支架的接觸表面上出
現了溫度升高的現象。由於保險絲支架
的金屬表面具反射性，溫度增加的情形
在那個位置並不可見，而是體現在保險
絲的陶瓷部分。
客戶支援 客戶支援
客戶支援 客戶支援
客戶支援網站：
http://flir.custhelp.com
要向顧客支援團隊提交問題，您必須是
註冊使用者。線上註冊僅需幾分鐘。如
果您只想搜尋現有問題與解答的知識庫，
則無需註冊為使用者。
如需提交問題，請務必在手邊準備好以
下資訊：
• 熱像儀的型號。
• 熱像儀的序號。
• 熱像儀與 PC 之間的通訊協定或方式 (
例如：Ethernet, USB ™ 或
FireWire ™ )。
• 您電腦上的作業系統。
• Microsoft® Office 版本。
• 說明書的全名、出版號和版本號。