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Messcharakteristiken
An der EOS D30 stehen drei Messverfahren zur Verfügung: Mehrfeldmessung,
Selektivmessung und mittenbetonte Messung.
Bei den automatischen Aufnahmeprogrammen wird die Mehrfeldmessung verwendet. Bei den
Kreativprogrammen kann ein beliebiges der drei Verfahren ausgewählt werden.
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: Mehrfeldmessung
Hierbei handelt es sich um ein Allroundverfahren,
das sich selbst für Objekte im Gegenlicht eignet. Das
Sucherfeld ist in 35 Messbereiche aufgeteilt, die für
die Mehrfeldmessung den drei AF-Messfeldern
zugeordnet sind. Die Kamera ermittelt Größe,
Position, Helligkeit, Hintergrund, Auflicht und
Gegenlicht usw. für das Hauptobjekt, so dass
jederzeit die richtige Belichtung des Objekts gewählt
werden kann.
●
Bei der manuellen Scharfeinstellung bezieht sich
die Mehrfeldmessung auf das mittlere AF-
Messfeld.
: Selektivmessung
Dieses Verfahren ist besonders wirksam, wenn der
Hintergrund infolge Gegenlichts usw. viel heller als
das Objekt ist. Es stützt sich auf einen Mittenbereich
von ca. 9,5 % der Einstellscheibe.
●
Der von der Selektivmessung erfasste Bereich ist
links dargestellt.
: Mittenbetonte Messung
Bei diesem Verfahren wird die durchschnittliche
Belichtung über die gesamte Einstellscheibe
gemessen, wobei die Bildmitte besonders ins
Gewicht fällt.
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