Inhaltsverzeichnis
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AF-Arbeitsbereich:
AF-Betriebsarten:
AF-Messfeldwahl:
Ausgewählte
AF-Messfeldanzeige:
AF-Hilfslicht:
• Belichtungsregelung
Messmodi:
Messbereich:
Belichtungsfunktionen:
ISO-Empfindlichkeit:
Belichtungskorrektur:
Belichtungsmesswertspeicher: Automatisch: Im One-Shot AF-Modus und
• Verschluss
Typ:
Verschlusszeiten:
174
EV 0-18 (ISO 100 bei 20 °C)
Schärfenpriorität (ONE SHOT)
AI Servo AF (AI SERVO)
Manuelle Scharfeinstellung (MF)
Automatische Messfeldwahl, manuelle Messfeldwahl,
Grundstellung (Umschaltung auf das gespeicherte
AF-Messfeld)
Im Sucher und auf der oberen LCD-Anzeige
Integriertes Speedlite gibt Hilfslicht ab
TTL-Offenblendenmessung mit 21 Messsektoren
(1) Mehrfeldmessung (mit jedem AF-Messfeld verknüpfbar)
(2) Selektivmessung (über ca. 13,5 % des Sucherfelds
im zentralen Bereich)
(3) Spotmessung
• Zentrale Spotmessung (über ca. 3,8 % des Sucherfelds
im zentralen Bereich)
• AF-verknüpfte Spotmessung (über ca. 3,8 % des
Sucherfelds)
• Multi-Spotmessung (max. 8 Spotmessungen)
(4) Mittenbetonte Integralmessung
EV 0 - 20 (bei 20 ˚C, mit Objektiv 50 mm 1:1,4 und ISO 100)
Programmautomatik (mit Programmverschiebung),
Blendenautomatik, Zeitautomatik, E-TTL-Blitzautomatik,
manuelle Belichtung, gemessene manuelle Blitzlichtaufnahmen
Entspricht ISO 100 - 1600 (in Drittelstufen),
kann auf ISO 50 und 3200 erweitert werden
AEB (Belichtungsreihenautomatik): ±3 Stufen in Drittelstufen
Methoden zur Streuung: 1. Verschlusszeit und Blendenwert
Manuell: ±3 Stufen in Drittelstufen
(kann mit AEB kombiniert werden)
Mehrfeldmessung bei Schärfenspeicherung
Manuell: Mit Speichertaste in allen Messmodi
Elektronisch gesteuerter Schlitzverschluss
1/8000 s bis 30 s in Drittelstufen, Langzeitbelichtung,
X-Synchronzeit 1/250 s
2. ISO-Empfindlichkeit
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