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Tabelle
Eichen
1. Objektmikrometer scharf stellen.
2. Zählen:
Anzahl mm (inch) auf dem Objektmikrometer (X)
Anzahl Intervalle auf der Okular-Strichplatte (Y)
3. Eichwert (ein Intervall der Okular-Strichplatte) berechnen:
X
=
Y
Messen
4. Objekt anstelle des Objektmikrometers scharf stellen.
5. Zählen und berechnen:
Anzahl Intervalle auf der Okular-Strichplatte
×
mm (inch) Eichwert =
Leica Microsystems AG
Stereo & Macroscope Systems
CH-9435 Heerbrugg (Schweiz)
mm (inch) Eichwert
mm (inch) Länge der Messstrecke
Telefon +41 71 727 31 31
Fax +41 71 727 46 76
www.leica-microsystems.com
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