DeFelsko PosiTest PG Gebrauchsanweisung Seite 26

6. Allumer la lampe intégrée (p. 3) et aligner le microscope sur
l'intersection du repère et de l'entaille.
7. Observer la coupe à travers l'oculaire, en procédant à la mise
au point du microscope et en tournant l'oculaire si besoin
pour aligner adéquatement les repères du réticule sur la
rayure.
REMARQUE:
pratique d'aligner un des principaux repères gradués avec le
bord du revêtement. Il n'est pas nécessaire de l'aligner sur le
zéro de l'échelle graduée.
Substrat
0
Les mesure
0.0 0.2 0.4 0.6 0.8
Revêtement
Les mesure
8. Enregistrer la largeur de la coupe, en mesurant du bord du
substrat au bord du repère contrasté, en comptant le nombre
de graduations. S'il s'agit de mesurer un système de
revêtement multicouche, la largeur de chaque couche
individuelle peut être enregistrée.
REMARQUE:
réalisées en utilisant les repères de graduation présents au-
dessus de la ligne centrale. Les mesures en microns/mils doivent
être réalisées en utilisant les repères de graduation en dessous
de la ligne centrale.
9. Multiplier la largeur mesurée de la coupe par le facteur de
conversion du tableau ci-après présenté pour déterminer
l'épaisseur du revêtement.
Pendant la prise de mesure, il est souvent
10 20 30
(1x Pointe de coupe) = 0,76mm / 760µm / 0,03" / 30 mils
(2x Pointe de coupe) = 0,38mm / 380µm / 0,015" / 15 mils
(10x Pointe de coupe) = 0,076mm / 76µm / 0,003" / 3 mils
Les mesures en mils/pouces doivent être
40 50 60 70
1.2
1.0
Marqueur
2
1 DIV = 1 mil
1.4 1.6 1.8
1 DIV = 0,02 mm